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アイテム
64ビットRISC型マイクロプロセッサ(MN10501)とその故障解析手法
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/24643
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/24643e910a606-9150-47d7-9a2d-39a0dcd357c3
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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![]() |
Copyright (c) 1990 by the Information Processing Society of Japan
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オープンアクセス |
Item type | SIG Technical Reports(1) | |||||||
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公開日 | 1990-06-22 | |||||||
タイトル | ||||||||
タイトル | 64ビットRISC型マイクロプロセッサ(MN10501)とその故障解析手法 | |||||||
タイトル | ||||||||
言語 | en | |||||||
タイトル | 64 - BIT RISC MICROPROCESSOR (MN10501) AND ITS TESTING AND DEBUGGING METHOD | |||||||
言語 | ||||||||
言語 | jpn | |||||||
資源タイプ | ||||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||||
資源タイプ | technical report | |||||||
著者所属 | ||||||||
松下電器産業(株)半導体研究センター超LSIデバイス研究所 | ||||||||
著者所属 | ||||||||
松下電器産業(株)半導体研究センター超LSIデバイス研究所 | ||||||||
著者所属 | ||||||||
松下電器産業(株)半導体研究センター超LSIデバイス研究所 | ||||||||
著者所属 | ||||||||
松下電器産業(株)半導体研究センター超LSIデバイス研究所 | ||||||||
著者所属 | ||||||||
松下電器産業(株)半導体研究センター超LSIデバイス研究所 | ||||||||
著者所属 | ||||||||
松下電器産業(株)半導体研究センター超LSIデバイス研究所 | ||||||||
著者所属 | ||||||||
松下電器産業(株)半導体研究センター超LSIデバイス研究所 | ||||||||
著者所属 | ||||||||
松下電器産業(株)半導体研究センター超LSIデバイス研究所 | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
Semiconductor Research Center Matsushita Electrical Industrial Co., Ltd. | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
Semiconductor Research Center Matsushita Electrical Industrial Co., Ltd. | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
Semiconductor Research Center Matsushita Electrical Industrial Co., Ltd. | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
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Semiconductor Research Center Matsushita Electrical Industrial Co., Ltd. | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
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Semiconductor Research Center Matsushita Electrical Industrial Co., Ltd. | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
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Semiconductor Research Center Matsushita Electrical Industrial Co., Ltd. | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
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Semiconductor Research Center Matsushita Electrical Industrial Co., Ltd. | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
Semiconductor Research Center Matsushita Electrical Industrial Co., Ltd. | ||||||||
著者名 |
勝連城二
永久, 龍彦
山本, 崇夫
長岡, 恭弘
米澤, 浩和
冨田, 泰弘
渡里, 滋
國信, 茂郎
× 勝連城二 永久, 龍彦 山本, 崇夫 長岡, 恭弘 米澤, 浩和 冨田, 泰弘 渡里, 滋 國信, 茂郎
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著者名(英) |
Joji, Katsura
Tatsuhiko, Nagahisa
Takao, Yamamoto
Yasuhiro, Nagaoka
Hirokazu, Yonezawa
Yasuhiro, Tomita
Shigeru, Watari
Shigeo, Kuninobu
× Joji, Katsura Tatsuhiko, Nagahisa Takao, Yamamoto Yasuhiro, Nagaoka Hirokazu, Yonezawa Yasuhiro, Tomita Shigeru, Watari Shigeo, Kuninobu
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論文抄録 | ||||||||
内容記述タイプ | Other | |||||||
内容記述 | RISC型マイクロプロセッサ(105)は、SPARCアーキテクチャを採用した64ビットMPUでその高機能化及び高集積化を実現することにより1チップ内のトランジスタ数は約100万個に達する。その内部は、整数演算、浮動小数点演算、命令キャッシュ、データキャッシュ、メモリ管理及びバスコントロールの6個の機能モジュールから構成され、40MHzの動作周波数で、40MIPS/20MFLOPSのピーク性能を達成している。このような大規模なチップの開発において我々は、テスト容易化設計によるテスティングの効率化や高速な内部信号のタイミングの検益のための新たな故障解析手法を採用し、さらにMPUのテス卜・デバッグをより効率的にかつ高度に解析可能な環境としてEBテスタを中心とするテスト・デバッグシステムを構築した。 | |||||||
論文抄録(英) | ||||||||
内容記述タイプ | Other | |||||||
内容記述 | RISC microprocessor (MN10501) is a 64-bit MPU with SPARC architecture Which contains about 1,000,000 transistors in a diearea by high performance and high integration. It consists of an integer unit (I U), a floating-point unit (FPU), a memory management unit (MMU), a data cache unit (DCU), an instruction cache unit (ICU) and a bus control unit (BCU), and realizes 40MIPS and 20 MFLOPS peak performance at 40 MHz. In the development or this VLSI, we have realized the efficiency of testing by designs for testability and that of fault analysis by verifying the timming of high speed signals in the chip and, moreover constructed a testing and debugging system environment which uses an EB tester efficiently. | |||||||
書誌レコードID | ||||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
収録物識別子 | AN10096105 | |||||||
書誌情報 |
情報処理学会研究報告計算機アーキテクチャ(ARC) 巻 1990, 号 51(1990-ARC-062), p. 1-6, 発行日 1990-06-22 |
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Notice | ||||||||
SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. | ||||||||
出版者 | ||||||||
言語 | ja | |||||||
出版者 | 情報処理学会 |