論理BISTにおけるスキャンイン電力制御手法とTEG評価

• Item type: Symposium(1)
• 公開日: 2016-09-07
• タイトル: 論理BISTにおけるスキャンイン電力制御手法とTEG評価
• タイトル / 言語: en
• タイトル: A Flexible Scan-in Power Control Method for Scan-Based Logic BIST and Its Evaluation on TEG Chips
• 言語: jpn
• キーワード / 主題Scheme: Other
• キーワード / 主題: テスト・故障診断
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_5794
• 資源タイプ: conference paper
• 著者所属: 九州工業大学
• 著者所属: 愛媛大学
• 著者所属: 九州工業大学
• 著者所属: 九州工業大学
• 著者所属: 九州工業大学
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Kyushu Institute of Technology
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Ehime University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Kyushu Institute of Technology
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Kyushu Institute of Technology
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Kyushu Institute of Technology
• 著者名: 加藤, 隆明; 王, 森レイ; 佐藤, 康夫; 梶原, 誠司; 温, 暁青
• 著者名(英): Takaaki, Kato; Senling, Wang; Yasuo, Sato; Seiji, Kajihara; Xiaoqing, Wen
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: スキャンベースの論理 BIST では，テスト時の過大な消費電力が問題となっている．適切なテスト時消費電力は回路毎に異なり，電力を下げ過ぎてもテスト品質の低下やパターン数増加によるテストコスト増加の問題を生じさせる．本研究では，論理 BIST のテストパターンに使われる疑似ランダムパターンに対して，スキャンイン時のトグル率が指定した目標値になるようパターンを変更し，テスト時の電力を制御する手法を提案する．目標トグル率を実現するテストパターンが多く存在する中で，本手法は故障検出率が高くなるようなパターンに変更する．実験では，目標トグル率に対する故障検出率評価や TEG チップの測定結果により，提案手法の有効性を示す．
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: High power dissipation during scan-based logic BIST is a crucial problem that can lead to over-testing or chip damage. Although low power technology is strongly required, controlling the test power of a circuit to an appropriate level in logic BIST is difficult. This paper proposes a novel power-controlling method to control the toggle rate in scan shift operation to an specified level by modifying pseudo random patterns generated by a TPG (Test Pattern Generator) in logic BIST. Different from previous methods, the proposed method is able to maintain high fault coverage without test time increase. Simulation-based experiments clearly demonstrate that the proposed method can control toggle rate during scan-in operation and evaluations on TEG chips show its impact on circuit delay.
• 書誌情報: DAシンポジウム2016論文集; 巻 2016, 号 15, p. 79-84, 発行日 2016-09-07
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会