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アイテム
対応点探索のための二値特徴量
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/96168
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/961686e74fd50-edb0-45ad-9b7f-c4127522a7e6
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
IPSJ-CG13153019.pdf (1.5 MB)
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Copyright (c) 2013 by the Information Processing Society of Japan
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| オープンアクセス | ||
| Item type | SIG Technical Reports(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2013-11-21 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 対応点探索のための二値特徴量 | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||
| 資源タイプ | technical report | |||||
| 著者所属 | ||||||
| 株式会社デンソーアイティーラボラトリ | ||||||
| 著者名 |
安倍満
× 安倍満 |
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| 論文抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 局所特徴量を二値ベクトルで表現する手法について紹介する．これは，キーポイントの特徴量記述を実数のベクトルで表現せず，数十～数百個程度の 0 と 1 の列 （すなわち二値のベクトル） で表現するというものである．この方法により，計算速度・メモリ消費量の問題が飛躍的に改善されたことから，コンピュータビジョンの研究者の幅広い関心を集めるようになった．今では，SIFT や SURF に代わる新たな局所特徴量として急速に普及しつつある．本稿では，キーポイント周辺からコンパクトな二値特徴量を抽出する手法について体系的にまとめる．また，研究目的に利用可能なソフトウェアライブラリについても紹介する． | |||||
| 書誌レコードID | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AN10100541 | |||||
| 書誌情報 |
研究報告グラフィクスとCAD（CG） 巻 2013-CG-153, 号 19, p. 1-14, 発行日 2013-11-21 |
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| Notice | ||||||
| SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. | ||||||
| 出版者 | ||||||
| 言語 | ja | |||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||
