ログイン 新規登録
言語:

WEKO3

  • トップ
  • ランキング
To
lat lon distance
To

Field does not validate



インデックスリンク

インデックスツリー

メールアドレスを入力してください。

WEKO

One fine body…

WEKO

One fine body…

アイテム

  1. 研究報告
  2. データベースシステム(DBS)※2025年度よりデータベースとデータサイエンス(DBS)研究会に名称変更
  3. 2006
  4. 77(2006-DBS-140)

適応型e-ラーニングに必要な診断的テスト機構

https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/18955
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/18955
b98c002e-8a55-4bfb-bd41-678a066de76d
名前 / ファイル ライセンス アクション
IPSJ-DBS06140004.pdf IPSJ-DBS06140004 (479.1 kB)
Copyright (c) 2006 by the Information Processing Society of Japan
オープンアクセス
Item type SIG Technical Reports(1)
公開日 2006-07-12
タイトル
タイトル 適応型e-ラーニングに必要な診断的テスト機構
タイトル
言語 en
タイトル Diagnostic Testing Mechanism for Adaptive e-Learning Sytems
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
資源タイプ technical report
著者所属
岡山県立大学 大学院
著者所属
株式会社ベネッセコーポレーション
著者所属
岡山理科大学
著者所属
岡山県立大学
著者所属
岡山県立大学
著者所属(英)
en
Okayama Prefectural University
著者所属(英)
en
Benesse Corporation
著者所属(英)
en
Okayama University of Science
著者所属(英)
en
Okayama Prefectural University
著者所属(英)
en
Okayama Prefectural University
著者名 西, 輝之

× 西, 輝之

西, 輝之

Search repository
延原, 哲也

× 延原, 哲也

延原, 哲也

Search repository
劉, 渤江

× 劉, 渤江

劉, 渤江

Search repository
国島, 丈生

× 国島, 丈生

国島, 丈生

Search repository
横田, 一正

× 横田, 一正

横田, 一正

Search repository
著者名(英) Teruyuki, Nishi

× Teruyuki, Nishi

en Teruyuki, Nishi

Search repository
Tetsuya, Nobuhara

× Tetsuya, Nobuhara

en Tetsuya, Nobuhara

Search repository
Bojiang, Liu

× Bojiang, Liu

en Bojiang, Liu

Search repository
Takeo, Kunishima

× Takeo, Kunishima

en Takeo, Kunishima

Search repository
Kazumasa, Yokota

× Kazumasa, Yokota

en Kazumasa, Yokota

Search repository
論文抄録
内容記述タイプ Other
内容記述 学習者の状態により提示する教材を変化させる適応型e-ラーニングにおいて、教材の提示順序を含むシーケンシングを適切に行うには学習者の理解度を把握する事が重要である。本稿では、そのためのテスト機構を提案する。この機構を有効に働かせるための教材の記述と、その中でのテスト機構の機能と記述について述べる。
論文抄録(英)
内容記述タイプ Other
内容記述 In an adaptive e-laerning system, teaching materials are presented to learners according to their understanding levels or test results. For such objectives, it is important to trace learners' learning processes and grasp their understanding levels apropriately. In this paper, we propose a new testing mechanism: how to describe tests, how to give them to leaners, and how to evaluate their results.
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AN10112482
書誌情報 情報処理学会研究報告データベースシステム(DBS)

巻 2006, 号 77(2006-DBS-140), p. 21-26, 発行日 2006-07-12
Notice
SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
出版者
言語 ja
出版者 情報処理学会
戻る
0
views
See details
Views

Versions

Ver.1 2025-01-19 22:52:25.765126
Show All versions

Share

Mendeley Twitter Facebook Print Addthis

Cite as

エクスポート

OAI-PMH
  • OAI-PMH JPCOAR
  • OAI-PMH DublinCore
  • OAI-PMH DDI
Other Formats
  • JSON
  • BIBTEX

Confirm


Powered by WEKO3


Powered by WEKO3