組合せ回路におけるテスト生成の効率化手法

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 1987-12-17
• タイトル: 組合せ回路におけるテスト生成の効率化手法
• タイトル / 言語: en
• タイトル: AN EFFICIENT METHOD OF ATG FOR COMBINATIONAL CIRCUITS
• 言語: jpn
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: ソニー株式会社
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): SONY Corporation
• 著者名: 宮沢, 浩
• 著者名(英): Hiroshi, Miyazawa
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: 近年、ATGシステムの構成要素である検査入力生成、故障シミュレーションに対して数多くの試みがなされてきているが、ATGシステム全体の処理効率が考慮されることは少なかった。本論文では、検査入力生成と故障シュミレーションを統合した新しい検査系列生成手法を提案する。ここで述べる検査系列生成手法では、不要な処理を極力排斥することによって処理効率の向上がはかられ、さらに生成されるテストパターン数の最小化も考慮される。また、その有効性を評価するために行った実験の結果についても併せて報告する。
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: In recent years, many approaches have been made for test pattern generation and fault simulation which are the components of ATG system. However, the efficiency of ATG system, as a whole, have not been considered so much. In this paper, a new ATG method, in which test pattern generation and fault simulation are combined, is presented. With this method, unneccessary processes are rejected and minimization of test pattern is considered. The efficiency is also presented with experimental results.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AA11451459
• 書誌情報: 情報処理学会研究報告システムLSI設計技術（SLDM）; 巻 1987, 号 90(1987-SLDM-040), p. 85-90, 発行日 1987-12-17
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会