@techreport{oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00028381,
 author = {宮沢, 浩 and Hiroshi, Miyazawa},
 issue = {90(1987-SLDM-040)},
 month = {Dec},
 note = {近年、ATGシステムの構成要素である検査入力生成、故障シミュレーションに対して数多くの試みがなされてきているが、ATGシステム全体の処理効率が考慮されることは少なかった。本論文では、検査入力生成と故障シュミレーションを統合した新しい検査系列生成手法を提案する。ここで述べる検査系列生成手法では、不要な処理を極力排斥することによって処理効率の向上がはかられ、さらに生成されるテストパターン数の最小化も考慮される。また、その有効性を評価するために行った実験の結果についても併せて報告する。, In recent years, many approaches have been made for test pattern generation and fault simulation which are the components of ATG system. However, the efficiency of ATG system, as a whole, have not been considered so much. In this paper, a new ATG method, in which test pattern generation and fault simulation are combined, is presented. With this method, unneccessary processes are rejected and minimization of test pattern is considered. The efficiency is also presented with experimental results.},
 title = {組合せ回路におけるテスト生成の効率化手法},
 year = {1987}
}