WEKO3
アイテム
2入力と4入力の論理ゲートで構成されたリングオシレータを用いた経年劣化測定のための検討
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/240471
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/24047116e5887e-aa5b-4d26-b0f5-f0dd916b55b7
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
IPSJ-SLDM24206004.pdf (923.4 kB)
2026年10月31日からダウンロード可能です。
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Copyright (c) 2024 by the Information Processing Society of Japan
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| 非会員：¥660, IPSJ:学会員：¥330, SLDM:会員：¥0, DLIB:会員：¥0 | ||
| Item type | SIG Technical Reports(1) | |||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2024-10-31 | |||||||||
| タイトル | ||||||||||
| タイトル | 2入力と4入力の論理ゲートで構成されたリングオシレータを用いた経年劣化測定のための検討 | |||||||||
| 言語 | ||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||
| キーワード | ||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||
| 主題 | ポスター | |||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||||||
| 資源タイプ | technical report | |||||||||
| 著者所属 | ||||||||||
| 富山県立大学工学部電気電子工学科 | ||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||
| 富山県立大学工学部電気電子工学科 | ||||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||||
| en | ||||||||||
| Department of Electrical and Electronic Engineering, Faculty of Engineering, Toyama Prefectural University | ||||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||||
| en | ||||||||||
| Department of Electrical and Electronic Engineering, Faculty of Engineering, Toyama Prefectural University | ||||||||||
| 著者名 |
杉本, 太郎
× 杉本, 太郎
× 岸田, 亮
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| 論文抄録 | ||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||
| 内容記述 | MOSFET の信頼性における問題の 1 つであるバイアス温度不安定性 (Bias Temperature Instability，BTI) は，MOSFET のゲート酸化膜に電圧を印加することで，チャネルに誘起される電荷量が少なくなり，動作電流の減少やしきい値の劣化が起こる現象である．さらに BTI による劣化はストレスがないときには回復する．この現象を回路レベルで評価をするために，2 入力と 4 入力の論理ゲートを用いたリングオシレータの発振回数を測定し，発振周波数の劣化率を評価する．本回路を用いた測定により，PMOS と NMOS それぞれの BTI による劣化度合いとしきい値の変化を求めることができ，回路レベルでの評価ができる．現時点では測定用の回路基板作成が完了し，本測定に向けて制御信号記述などの準備を行っている． | |||||||||
| 書誌レコードID | ||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||
| 収録物識別子 | AA11451459 | |||||||||
| 書誌情報 |
研究報告システムとLSIの設計技術（SLDM） 巻 2024-SLDM-206, 号 4, p. 1-3, 発行日 2024-10-31 |
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| ISSN | ||||||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||||
| 収録物識別子 | 2188-8639 | |||||||||
| Notice | ||||||||||
| SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. | ||||||||||
| 出版者 | ||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||||
