ネットリストを用いたドントケアビット数の見積り手法に関する研究

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 2012-11-19
• タイトル: ネットリストを用いたドントケアビット数の見積り手法に関する研究
• タイトル / 言語: en
• タイトル: A Method to Estimate the Number of Don't-Care Bits with Netlist
• 言語: jpn
• キーワード / 主題Scheme: Other
• キーワード / 主題: テスト
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 九州工業大学大学院
• 著者所属: 九州工業大学大学院
• 著者所属: 九州工業大学大学院
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Department of Computer Sciences and Electronics, Kyushu Institute of Technology
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Department of Computer Sciences and Electronics, Kyushu Institute of Technology
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Department of Computer Sciences and Electronics, Kyushu Institute of Technology
• 著者名: 宮瀬, 紘平; 梶原, 誠司; 温, 暁青
• 著者名(英): Kohei, Miyase; Seiji, Kajihara; Xiaoqing, Wen
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: テストパターンの故障検出能力に加えて，テストデータ量削減，低消費電力，テスト品質向上などの新しい特性を与える場合，テストパターン中のドントケアビットに論理値を割り当てるX 割当手法が使用される．しかし，X 割当の効果が低い場合，テスト容易化設計やテストパターン生成をやり直す必要がある．本研究では，テストパターン生成前にドントケアビット数を見積もることで，X 割当の効果を予測し，テスト容易化設計などのやり直しを回避する．
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: ｘ-filling is often utilized so as to achieve test compression, test power reduction, or test quality improvement etc. in addition to fault detection. If ｘ-filling cannot achieve sufficient results, we have to go back to the DFT and generate test vectors again. In this paper, we present a method to predict effectiveness of x-filling by estimating the number of don't-care (x) bits identified in test vectors. As the results, repeating the DFT and ATPG can be avoided due to insufficient results of x-filling.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AA11451459
• 書誌情報: 研究報告システムLSI設計技術（SLDM）; 巻 2012-SLDM-158, 号 46, p. 1-6, 発行日 2012-11-19
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会