テストコードに存在するSelf-Admitted Technical Debtの実証的調査に向けて

• Item type: Symposium(1)
• 公開日: 2024-09-10
• タイトル: テストコードに存在するSelf-Admitted Technical Debtの実証的調査に向けて
• タイトル / 言語: en
• タイトル: Towards an Empirical Investigation into Self-Admitted Technical Debt in Test Code
• 言語: jpn
• キーワード / 主題Scheme: Other
• キーワード / 主題: テスト
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_5794
• 資源タイプ: conference paper
• 著者所属: 奈良先端科学技術大学院大学
• 著者所属: 奈良先端科学技術大学院大学
• 著者所属: 奈良先端科学技術大学院大学
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Nara Institute of Science and Technology
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Nara Institute of Science and Technology
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Nara Institute of Science and Technology
• 著者名: 中村, 伊吹; 柏, 祐太郎; 飯田, 元
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: ソフトウェア開発において，時間を要する理想的な実装を選択する代わりに，不完全であるが簡便な実装を選択することで生じる追加工数を技術的負債と呼ぶ．特に，開発者が意図的に導入する技術的負債は Self-Admitted Technical Debt (SATD) と呼ばれ，多くの開発者が導入していることが知られている．近年では，多くの研究が SATD がソフトウェア品質などに与える影響を調査している．しかし，ほとんどの研究はプロダクションコードに焦点が当てられており，テストコードに存在する SATD は研究対象外あるいは類似した性質の SATD であると扱っている．しかしながら，実際にはテストコード内にも多くの SATD が存在しており，既存のカテゴリに分類できないような SATD も確認された．そこで本研究では，テストコードに存在する SATD の実態を明らかにするために，テストコードに存在する SATD の分布や種類，テストコードに存在する問題を示す指標との関係性について調査する．調査の結果，テストコードに存在する SATD の数はプロダクションコードに存在する SATD と比べて相対的に少ないことが確認された．また，テストコードに存在する問題を示す指標であるテストスメルとは異なる問題として発生する可能性が高いことも明らかとなった．さらに，Test SATD には多くの種類が存在し，既存のカテゴリには該当しない分類の存在も確認した．
• 書誌情報: ソフトウェアエンジニアリングシンポジウム2024論文集; 巻 2024, p. 55-62, 発行日 2024-09-10
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会