WEKO3
アイテム
β-VAEGANを用いた異常検知のための疑似異常データの生成
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/236125
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/23612568a4927c-3112-4ae1-99a0-743e2c6423cb
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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IPSJ-Z86-2T-03.pdf (411.5 kB)
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Copyright (c) 2024 by the Information Processing Society of Japan
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| Item type | National Convention(1) | |||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2024-03-01 | |||||||||
| タイトル | ||||||||||
| タイトル | β-VAEGANを用いた異常検知のための疑似異常データの生成 | |||||||||
| 言語 | ||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||
| キーワード | ||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||
| 主題 | 人工知能と認知科学 | |||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||||||
| 資源タイプ | conference paper | |||||||||
| 著者所属 | ||||||||||
| 名工大 | ||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||
| 名工大 | ||||||||||
| 著者名 |
秋田, 行輝
× 秋田, 行輝
× 田口, 亮
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| 論文抄録 | ||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||
| 内容記述 | 工業製品等の生産効率を向上させるためには、製造工程における外観検査の自動化が重要である。しかし、AIによる外観検査の精度向上には大量の学習データが必要となり、データの収集やアノテーションに多大なコストがかかる。この問題の解決策の1つとして、正常データや少量の異常データのみから疑似的な異常データを生成するというものがある。本研究では、β-VAEGANに条件制約を加えることで画像上の特定の特徴と潜在空間の特定次元の紐づけを明示的に行い、潜在変数を介して異常の度合いを含む画像上の特徴をコントロールしながら疑似異常画像を生成する手法を提案する。 | |||||||||
| 書誌レコードID | ||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||
| 収録物識別子 | AN00349328 | |||||||||
| 書誌情報 |
第86回全国大会講演論文集 巻 2024, 号 1, p. 577-578, 発行日 2024-03-01 |
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| 出版者 | ||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||||
