電磁的情報漏えいを強制的に誘発する照射周波数推定法に関する基礎検討

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 2019-07-16
• タイトル: 電磁的情報漏えいを強制的に誘発する照射周波数推定法に関する基礎検討
• タイトル / 言語: en
• タイトル: Fundamental Study on an Estimation Method of Irradiate Frequencies to Forcibly Cause Electromagnetic Information Leakage
• 言語: jpn
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 奈良先端科学技術大学院大学
• 著者所属: 仙台高等専門学校
• 著者所属: 奈良先端科学技術大学院大学
• 著者所属: 奈良先端科学技術大学院大学
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Nara Institute of Science and Technology
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): National Institute of Technology, Sendai College
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Nara Institute of Science and Technology
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Nara Institute of Science and Technology
• 著者名: 鍛治, 秀伍; 衣川, 昌宏; 藤本, 大介; 林, 優一\n
• 著者名(英): Shugo, Kaji; Masahiro, Kinugawa; Daisuke, Fujimoto; Yuichi, Hayashi
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: 正規に実装された機器の回路が，特定の周波数の電磁波を照射することによりハードウェアトロジャンと同等の動作をし，機器内部に実装された IC の入出力信号が電磁波を介して漏えいする脅威が報告されている．従来，このような情報漏えいを引き起す電磁波の周波数は網羅的な周波数探索によって特定されていた．これに対し，本稿では，機器の物理的な構造に着目し，このような情報漏えいを引き起す電磁波の周波数を推定する手法を提案する．提案手法の有効性を示す実験では，攻撃対象機器に接続された線路や周辺機器の総外形長の計測によって機器内部への誘導効率の良い電磁波の周波数推定を行い，推定した周波数の電磁波を攻撃対象機器に照射した．実験を行った結果，推定した周波数だけでなく，当該周波数を整数倍した電磁波の照射によって IC の入出力信号の電磁的情報漏えいが誘発されることを確認した．
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: The threats of electromagnetic (EM) information leakage from the input/output (I/O) signal of an IC mounted on a device have been reported. The above attack is caused when attackers irradiate an EM wave of the specific frequency against properly implemented I/O circuits. Then, properly circuits behave like hardware Trojan. To be feasible the above-mentioned attack, conventional studies have searched for the broad frequency range to find frequencies available for the attack. However, this search required a lot of time. In this paper, we propose a method to estimate frequencies available for the attack by focusing on the physical structure of the device without searching for the broad frequency range. In an experiment, we measured the length of the connected line and the length of around the peripheral devices of a target device. Based on the above measurement, we extracted resonance frequencies corresponding to the total length of the target device as frequencies available for the attack Moreover, we confirmed that EM information leakage of the I/O signal of the IC by irradiating not only the estimated frequency but also its harmonics.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AA12628305
• 書誌情報: 研究報告セキュリティ心理学とトラスト（SPT）; 巻 2019-SPT-34, 号 37, p. 1-4, 発行日 2019-07-16
• ISSN / 収録物識別子タイプ: ISSN
• ISSN / 収録物識別子: 2188-8671
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会