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アイテム
アフィン空間拘束とエピポーラ拘束を利用した2組の時系列画像における画像間対応軌跡推定
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/17932
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/1793220e953b8-8da1-476e-b992-6268c40ad801
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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![]() |
Copyright (c) 2008 by the Information Processing Society of Japan
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オープンアクセス |
Item type | Trans(1) | |||||||
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公開日 | 2008-03-15 | |||||||
タイトル | ||||||||
タイトル | アフィン空間拘束とエピポーラ拘束を利用した2組の時系列画像における画像間対応軌跡推定 | |||||||
タイトル | ||||||||
言語 | en | |||||||
タイトル | Image Correspondence Estimation from Affine Space Constraint and Epipolar Constraint on a Pair of Image Sequences | |||||||
言語 | ||||||||
言語 | jpn | |||||||
キーワード | ||||||||
主題Scheme | Other | |||||||
主題 | 研究論文(推薦) | |||||||
資源タイプ | ||||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||
資源タイプ | journal article | |||||||
著者所属 | ||||||||
東京工業大学大学院理工学研究科機械制御システム専攻 現在,株式会社デンソーディーゼル噴射技術1部 | ||||||||
著者所属 | ||||||||
東京工業大学大学院理工学研究科機械制御システム専攻 | ||||||||
著者所属 | ||||||||
東京工業大学大学院理工学研究科機械制御システム専攻 | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
Department of Mechanical and Control Engineering,Graduate School of Science and Engineering, Tokyo Institute of Technology , Presently with Diesel Injection Engineering Department1, Denso Corporation | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
Department of Mechanical and Control Engineering,Graduate School of Science and Engineering, Tokyo Institute of Technology | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
Department of Mechanical and Control Engineering,Graduate School of Science and Engineering, Tokyo Institute of Technology | ||||||||
著者名 |
高橋, 秀和
杉本, 茂樹
奥富, 正敏
× 高橋, 秀和 杉本, 茂樹 奥富, 正敏
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著者名(英) |
Hidekazu, Takahashi
Shigeki, Sugimoto
Masatoshi, Okutomi
× Hidekazu, Takahashi Shigeki, Sugimoto Masatoshi, Okutomi
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論文抄録 | ||||||||
内容記述タイプ | Other | |||||||
内容記述 | 本論文では,大きなベースライン長を持つ2 組の時系列画像間の対応を求めるための新しい手法を提案する.提案手法では,それぞれの時系列画像中の特徴点をそれぞれ追跡し,画像間に存在するエピポーラ拘束を利用して,一方の時系列画像のそれぞれの特徴点軌跡を他方の時系列画像の全特徴点軌跡が属するアフィン空間にあてはめる.これにより,一方の時系列画像から得られた特徴点軌跡に対する他方の時系列画像中の特徴点軌跡を推定することができ,画像間の特徴点の対応軌跡が得られる.この方法は,画素値を利用したステレオ画像対応点探索とは異なり,両方の画像で同時に観測されていない点に対しても特徴点の対応座標が得られるという特徴を持つ.さらに,得られた対応をもとに,対象の3次元形状を復元することもできる.合成画像および実画像を用いた実験を通じて,提案手法の有効性を示す. | |||||||
論文抄録(英) | ||||||||
内容記述タイプ | Other | |||||||
内容記述 | In this paper, we propose a novel approach for image correspondence estimation using a pair of wide-baseline synchronized image sequences. In the proposed approach, after tracking the feature points in each image sequence over several frames, we utilize the consistent epipolar constraints on the image pairs for fitting each trajectory in one image sequence to the motion subspace derived from all trajectories in the other sequence. Then the stereo correspondence of each trajectory is obtained. Dissimilarly to the conventional stereo correspondence estimation based on matching using pixel values, the proposed approach enables us to obtain the image correspondences even though the trajectories are observed in only one image sequence.The validity of the proposed approache is shown by the experiments using synthetic and real images. | |||||||
書誌レコードID | ||||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
収録物識別子 | AA11560603 | |||||||
書誌情報 |
情報処理学会論文誌コンピュータビジョンとイメージメディア(CVIM) 巻 49, 号 SIG6(CVIM20), p. 46-55, 発行日 2008-03-15 |
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ISSN | ||||||||
収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||
収録物識別子 | 1882-7810 | |||||||
出版者 | ||||||||
言語 | ja | |||||||
出版者 | 情報処理学会 |