WEKO3
-
RootNode
アイテム
直流テストパターン選択手法の改良によるASICのテスト時間の短縮
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/134137
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/134137b675d5db-ed3a-4e40-9848-1767dfd2b5da
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
KJ00001346910.pdf (207.0 kB)
|
|
| Item type | National Convention(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 1998-10-05 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 直流テストパターン選択手法の改良によるASICのテスト時間の短縮 | |||||
| タイトル | ||||||
| 言語 | en | |||||
| タイトル | The Improvement of DC Parametric Test Pattern Selection Algorithm. | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||
| 資源タイプ | conference paper | |||||
| 著者所属 | ||||||
| 三菱電機システムLSIデザイン(株) | ||||||
| 著者所属 | ||||||
| 三菱電機システムLSIデザイン(株) | ||||||
| 著者所属 | ||||||
| 三菱電機システムLSIデザイン(株) | ||||||
| 著者所属 | ||||||
| 三菱電機(株) | ||||||
| 著者所属(英) | ||||||
| en | ||||||
| Mitsubishi Electric System LSI Design Corp. | ||||||
| 著者所属(英) | ||||||
| en | ||||||
| Mitsubishi Electric System LSI Design Corp. | ||||||
| 著者所属(英) | ||||||
| en | ||||||
| Mitsubishi Electric System LSI Design Corp. | ||||||
| 著者所属(英) | ||||||
| en | ||||||
| Mitsubishi Electric Corp. | ||||||
| 書誌レコードID | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AN00349328 | |||||
| 書誌情報 |
全国大会講演論文集 巻 第57回, 号 アーキテクチャ, p. 79-80, 発行日 1998-10-05 |
|||||
| 出版者 | ||||||
| 言語 | ja | |||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||
