ヒルベルト曲線による点照合ための新しい類似度計算法

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 2006-03-17
• タイトル: ヒルベルト曲線による点照合ための新しい類似度計算法
• タイトル / 言語: en
• タイトル: A Novel Similarity Measure for Point Matching using Hilbert Curve
• 言語: eng
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 早稲田大学大学院情報生産システム研究科
• 著者所属: 早稲田大学大学院情報生産システム研究科
• 著者所属: 財団法人北九州産学学術推進機構
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Graduate School of Information Production and Systems Waseda University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Graduate School of Information Production and Systems Waseda University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Kitakyushu Foundation for the Advancement of Industry Science and Technology
• 著者名: 田黎; 鎌田, 清一郎; 恒吉, 和幸
• 著者名(英): Li, TIAN; Sei-ichiro, KAMATA; Kazuyuki, TSUNEYOSHI
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: 本研究では、ヒルベルト曲線を利用した点照合ための新しい類似尺度について述べる。これは、ヒルベルト曲線を利用して、二次元の点情報を一次元点情報に変換し、一次元上で高速に類似尺度を計算できるものである。点照合ための従来手法と比較して、計算量が少なく、雑音の影響を受けにくいことを確認した。
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: In this report, we present a novel similarity measure using Hilbert curve for point pattern matching. In our method, the similarity measure is computed in one-dimensional (1-D) sequence in stead of in two-dimensional (2-D) space by using Hilbert curve. The experimental results show that our measure is fast and robust to noise than conventional similarity measures.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AA11131797
• 書誌情報: 情報処理学会研究報告コンピュータビジョンとイメージメディア（CVIM）; 巻 2006, 号 25(2006-CVIM-153), p. 333-338, 発行日 2006-03-17
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会