WEKO3
アイテム
最適強度組合せパターン光投影に基づく非均一色物体の3次元画像計測
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/52103
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/52103a237eafd-6495-46ee-8ae5-a115da379679
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
IPSJ-CVIM07157020.pdf (584.2 kB)
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Copyright (c) 2007 by the Information Processing Society of Japan
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| オープンアクセス | ||
| Item type | SIG Technical Reports(1) | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2007-01-12 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | 最適強度組合せパターン光投影に基づく非均一色物体の3次元画像計測 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| 言語 | en | |||||||
| タイトル | 3-D Image Measurement of Non-uniformity color Object Based on Optimal Intensity Modulated Projection. | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | jpn | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||||
| 資源タイプ | technical report | |||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 福岡工大 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 福岡工大 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 福岡工大 | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Graduate School of Engineering, Fukuoka Institute of Technology | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Graduate School of Engineering, Fukuoka Institute of Technology | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Graduate School of Engineering, Fukuoka Institute of Technology | ||||||||
| 著者名 |
福田, 琢磨
× 福田, 琢磨
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| 著者名(英) |
Takuma, FUKUDA
× Takuma, FUKUDA
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| 論文抄録 | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | パターン光投影に基づく3次元画像計測方法は，非接触で物体の形状や位置を計測することができる．この中で二値化式のパターン光投影手法は，多数回の投影が必要なので計測に時間がかかる．一方，非二値化式のパターン光投影計測手法は原理的には少数回の投影で計測が可能であるが，物体の表面反射率が未知の場合，理想的なしま強度分布を持つ観測パターン画像を得られない問題がある．筆者らは一回の投影でより多くのしま本数を投影し，観測パターン画像よりロバストにしまアドレスを検出するために，投影パターンのしま強度分布を最適化する最適強度組合せパターン光投影手法と，全照明画像を用いて観測パターン画像のしま強度分布を補正する手法を提案した．本研究では，上記のしま強度分布補正手法を拡張し，観測パターン画像のカラー解析に基づく強度補正を用い，非均一色物体の計測を行う． | |||||||
| 論文抄録(英) | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | 3-D image measurement methods based on the pattern projection can measure shape and the position of the object by noncontact.As for the pattern projection of the binarization type in this, because a lot of projection of times is necessary, the measurement time is long.The pattern projection measurement technique of non-binarization type is image with an ideal intensity distribution is not obtained. Because, surface reflectivity of the object is an unknown. In this research, we present a new technique, which combines the method of the optimal pattern and the method of the image intensity correction based on color-analysis of observation pattern, to solve above problems. | |||||||
| 書誌レコードID | ||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
| 収録物識別子 | AA11131797 | |||||||
| 書誌情報 |
情報処理学会研究報告コンピュータビジョンとイメージメディア（CVIM） 巻 2007, 号 1(2007-CVIM-157), p. 147-152, 発行日 2007-01-12 |
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| Notice | ||||||||
| SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. | ||||||||
| 出版者 | ||||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||
