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アイテム
逆テンキー(MPK)方式による短い人間乱数
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/32868
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/32868f7969efd-b149-4b20-8bf3-1c7c5a58f1ac
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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![]() |
Copyright (c) 2008 by the Information Processing Society of Japan
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オープンアクセス |
Item type | SIG Technical Reports(1) | |||||||
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公開日 | 2008-05-09 | |||||||
タイトル | ||||||||
タイトル | 逆テンキー(MPK)方式による短い人間乱数 | |||||||
タイトル | ||||||||
言語 | en | |||||||
タイトル | Human Random Generation Test by Using the Mobile Phone Keyboard | |||||||
言語 | ||||||||
言語 | jpn | |||||||
資源タイプ | ||||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||||
資源タイプ | technical report | |||||||
著者所属 | ||||||||
鳥取大学大学院エ学研究科情報エレクトロニクス専攻十 | ||||||||
著者所属 | ||||||||
富士通テン(株) | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
Department of Information and Electronics, Graduate School of Engineering, Tottori University | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
Fujitsu Ten Co. | ||||||||
著者名 |
田中, 美栄子
× 田中, 美栄子
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著者名(英) |
Mieko, Tanaka-Yamawaki
× Mieko, Tanaka-Yamawaki
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論文抄録 | ||||||||
内容記述タイプ | Other | |||||||
内容記述 | 人間乱数テストはヒトの乱数発生に現れる特徴から思考力や集中力のレベルを判定し 精神的疲労度の測定などを行おうとするもので 筆者等も数年来 健常者の人間乱数に表れる僅かな差異を認識する方法について 隠れマルコフモデル (HMM) や相関次元の測定などの方法で研究してきた. しかしこれらは長い乱数列を必要とし 被験者に対する負荷が大きい事が難点である. そこで長さ 50 の短い乱数列から簡便に特徴を取り出せる指標を探した結果 RP ADJ TPI H の 4 指標の組み合せが有効であることを見出し 2006 年の研究会で発表した. 今回は更に短い列を用いる目的で 携帯電話の入力画面を使ってテンキーの数字を 1 個ずつランダムな順に打つ という形のデータ採取を行い(これを逆テンキー方式の人間乱数と呼ぶ),その有効性を考察した | |||||||
論文抄録(英) | ||||||||
内容記述タイプ | Other | |||||||
内容記述 | Human Random Generation is a psychological test by which characteristics of individual person, or degree of mental fatigue can be measured. We have been practicing over several years including the time series analysis by means of hidden Markov model (HMM) and correlation dimensions. More recently, we focused on developing a method of extracting characteristics of very short sequences identified a set of indices suitable to characterize short sequences. In this report, we propose a novel direction of human random generation test using the number keys (Ten-Key) of mobile phones, by which we fix the length of data sequence to 9 and measure the randomness of the order of 9 number keys (1-9) on the mobile phone keyboard (MPK). | |||||||
書誌レコードID | ||||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
収録物識別子 | AN10505667 | |||||||
書誌情報 |
情報処理学会研究報告数理モデル化と問題解決(MPS) 巻 2008, 号 41(2008-MPS-069), p. 27-30, 発行日 2008-05-09 |
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Notice | ||||||||
SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. | ||||||||
出版者 | ||||||||
言語 | ja | |||||||
出版者 | 情報処理学会 |