全可観測な環境でのスキャンパスを有する順序回路の故障検査について

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 1991-05-10
• タイトル: 全可観測な環境でのスキャンパスを有する順序回路の故障検査について
• タイトル / 言語: en
• タイトル: Testing of Sequential Circuits with Scan Path under Highly Observable Condition
• 言語: jpn
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 大阪大学工学部
• 著者所属: 大阪大学工学部
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Faculty of Engineering, Osaka University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Faculty of Engineering, Osaka University
• 著者名: 温暁青; 樹下行三
• 著者名(英): Wen, Xiaoqing; Kozo, Kinoshita
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: 本稿では、回路内のすべてのゲートの出力線が観測できる環境での、順序回路の新しい故障検査手法を提案する。EBテスタの使用を基礎とする全可観測な環境では、短周期の繰り返しパターンの印加が必要である。本稿では、k?UCPスキャン回路を提案する。k?UCPスキャン回路において、そのスキャンパスを用いて回路の組合せ部分に短周期の繰り返しパターンを印加することができる。また、任意の順序回路をk?UCPスキャン回路に変換する手法をも提案する。
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: In this paper, a new method is proposed for testing sequential circuits under the highly observable condition in which outputs of all gates are assumed to be observable. The highly observable condition is based on the use of EB testers. A basic requirement in using an EB tester is that the circuit under test should be set up into a short and repetitive operation. In this paper, the concept of k-UCP scan circuits is proposed. It is shown that test vectors for all stuck-at faults in the combinational part of a k-UCP scan circuit can be applied in a successive and repetitive manner. A mcthod for modifying a synchronous sequential circuit into a k-UCP scan circuit is also proposed.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AA11451459
• 書誌情報: 情報処理学会研究報告システムLSI設計技術（SLDM）; 巻 1991, 号 35(1991-SLDM-057), p. 1-8, 発行日 1991-05-10
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会