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アイテム
正規分布を用いた統計的静的遅延解析手法の性能評価
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/27021
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/27021b6880b07-e892-4e90-9e5b-0c803cdbb3e6
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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![]() |
Copyright (c) 2006 by the Information Processing Society of Japan
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オープンアクセス |
Item type | SIG Technical Reports(1) | |||||||
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公開日 | 2006-10-27 | |||||||
タイトル | ||||||||
タイトル | 正規分布を用いた統計的静的遅延解析手法の性能評価 | |||||||
タイトル | ||||||||
言語 | en | |||||||
タイトル | A Performance Evaluation of a Statistical Static Timing Analysis Using Gaussian Distributions | |||||||
言語 | ||||||||
言語 | jpn | |||||||
資源タイプ | ||||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||||
資源タイプ | technical report | |||||||
著者所属 | ||||||||
中央大学大学院理工学研究科 | ||||||||
著者所属 | ||||||||
中央大学大学院理工学研究科 | ||||||||
著者所属 | ||||||||
中央大学大学院理工学研究科 | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
Graduate School of Science and Engineering, Chuo University | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
Graduate School of Science and Engineering, Chuo University | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
Graduate School of Science and Engineering, Chuo University | ||||||||
著者名 |
霜山, 渉
× 霜山, 渉
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著者名(英) |
Wataru, SHIMOYAMA
× Wataru, SHIMOYAMA
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論文抄録 | ||||||||
内容記述タイプ | Other | |||||||
内容記述 | 微細加工技術の進歩に伴う製造ばらつきの増大により、最悪を想定した従来の設計手法では、過剰マージンが重畳され、所望の回路が設計できないという事態が生じている。しかし、チップ内ばらつきも増大しているため、その影響を正確に見積もることができれば、過剰マージンを排除し、より低消費電力の回路を高歩留まりで製造できる可能性もある。このような目的で、各素子遅延が確率分布で与えられたとき、組合せ回路全体の遅延解析を行う統計的静的遅延解析手法が提案され、注目を集めている。この手法では、素子遅延およびパス遅延の分布の表現が、解析精度と解析時間に影響するため、重要となる。本文では、遅延を正規分布の和で表現する統計的静的遅延解析手法の性能を、相関および分布形状の影響の観点から、モンテカルロシミュレーションとの比較によって調べた結果について報告する。 | |||||||
論文抄録(英) | ||||||||
内容記述タイプ | Other | |||||||
内容記述 | The conventional design method to deal with variability is considering the worst-case corners and setting margins. Since process variability increases with the progress of nanotechnology, such a method sometimes fails in designing a desired circuit due to over-margins. However, since within-die variability is also increasing, if the effect of variability is evaluated precisely, then over-margins may be eliminated and low power circuits can be produced in high yield. For this purpose, statistical static timing analysis, which treats delays as random variables, attracts attentions and several algorithms have been proposed. In these algorithms, the way how to represent the distributions of element-delays and path-delays is important, and it affects the accuracy and the time complexity of the analysis. This paper evaluates the performance of an algorithm which represents each delay as a summation of Gaussian distributions from the viewpoint of influence of correlation and distribution of element-delay. The comparisons with Monte Carlo simulation are shown. | |||||||
書誌レコードID | ||||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
収録物識別子 | AA11451459 | |||||||
書誌情報 |
情報処理学会研究報告システムLSI設計技術(SLDM) 巻 2006, 号 111(2006-SLDM-126), p. 117-122, 発行日 2006-10-27 |
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Notice | ||||||||
SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. | ||||||||
出版者 | ||||||||
言語 | ja | |||||||
出版者 | 情報処理学会 |