テストの初期習熟度を考慮したソフトウェア信頼度成長モデル

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 1989-02-02
• タイトル: テストの初期習熟度を考慮したソフトウェア信頼度成長モデル
• タイトル / 言語: en
• タイトル: A Software Reliability Growth Model Incorporating Initial Capability for Testing
• 言語: jpn
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 日本電気（株）ソフトウェア生産技術開発本部
• 著者所属: 日本電気（株）ソフトウェア生産技術開発本部
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Software Engineering Development Laboratory, NEC Corporation
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Software Engineering Development Laboratory, NEC Corporation
• 著者名: 込山, 俊博; 砂塚, 利彦
• 著者名(英): Toshihiro, Komiyama; Toshihiko, Sunazuka
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: 本論文では、ソフトウェアエラーの成長曲線が指数型の場合にもS字型の場合にも適合の良いソフトウェア信頼度成長モデルを提案する。本モデルは非同時ポアソン過程(NHPP)として記述し、その平均値関数にテスト初期のエラー検出能力を表す初期習熟度パラメータを導入する。本モデルは従来から知られている指数型成長モデルと遅延S字型成長モデルの問題点を解決すると共に、両モデルを含むものである。モデルのパラメータの推定には最大法を用いる。また、3つのモデルを指数型とS字型成長を示すの2つの実データに対して適用し、偏差2乗和によりそれらの適合度を比較評価する。
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: This paper describes a software reliability growth model incorporating initial capability of test team. The model is assumed to be a nonhomogeneous Poisson process (NHPP). Some problems for exponential model and delayed S-shaped model are discussed. The model fits for both exponential and S-shaped type data. These models can be described as the special cases of this model. The parameter estimates can be obtained by maximum likelihood estimation. Finally, the goodness-of-fit based on the sum of the squares of the differences between the actual cumulative number of errors and the estimated value are presented. The model fits better than other two models.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AN10112981
• 書誌情報: 情報処理学会研究報告ソフトウェア工学（SE）; 巻 1989, 号 11(1988-SE-064), p. 9-16, 発行日 1989-02-02
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会