ライブラリアップデート時のテスト失敗解析におけるライブラリテスト差分の有効性に関する検討

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 2022-07-21
• タイトル: ライブラリアップデート時のテスト失敗解析におけるライブラリテスト差分の有効性に関する検討
• タイトル / 言語: en
• タイトル: Examination of the effectiveness of library test differences for test failure analysis in updating library
• 言語: jpn
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: NTTソフトウェアイノベーションセンタ
• 著者所属: NTTソフトウェアイノベーションセンタ
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): NTT Software Innovation Center
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): NTT Software Innovation Center
• 著者名: 小泉, 雄太; 野元, 励
• 著者名(英): Yuta, Koizumi; Tsutomu, Nomoto
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: ライブラリの利用はアプリケーション開発において一般的となっている．ライブラリは脆弱性やバグを修正した新しいバージョンが随時リリースされるため，ライブラリを利用したアプリケーション運用では，利用しているライブラリのアップデートを日々実施する必要がある．ライブラリアップデートによりアプリケーションのテストが失敗するようになった場合，デバッグ作業の一環として失敗原因の特定が必要となる．失敗原因の特定には原因となる API 呼び出し箇所と API 仕様の変更内容の二点の把握が必要となる．第三者が作成した OSS ライブラリのアップデートでは，API 仕様の変更内容はアプリケーション開発者にとって非自明であり把握が困難な場合がある．本稿はライブラリアップデートでのテスト失敗について，失敗原因となる API 仕様の変更内容の把握にライブラリテストのアップデートによる差分が有効である可能性があることを示し，失敗原因の把握に有効なライブラリテストの特定を支援する技術を検討した．
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: Using libraries is common in application development. Since new versions of libraries that fix vulnerabilities or bugs are released from time to time, it is necessary to update libraries which application depends on too. If the application test fails due to a library update, application developer should identify the cause of the failure as part of the debugging work. To identify the cause of the failure, application developer should understand the two points i.e. 1) the API call location that causes the failure and 2) the API specifications changed by updating. In the library created by a third party such as OSS, the API specifications changed in updating are non-obvious to the application developer and difficult to grasp. This article shows that for test failures in updating library, there is a possibility that library tests with differences are effective in understanding the changed API specifications that cause the failure, and need technique to help identify library tests that are effective in understanding the cause of the error. Moreover, I examined the one of the technique.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AN10112981
• 書誌情報: 研究報告ソフトウェア工学（SE）; 巻 2022-SE-211, 号 30, p. 1-8, 発行日 2022-07-21
• ISSN / 収録物識別子タイプ: ISSN
• ISSN / 収録物識別子: 2188-8825
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会