WEKO3
アイテム
ソフトウェア機能試験手順の状態遷移表に基づいた生成法
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/21712
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/21712d44bc1e0-ec20-4b8f-b2cf-7acd6ae34842
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
---|---|---|
![]() |
Copyright (c) 1998 by the Information Processing Society of Japan
|
|
オープンアクセス |
Item type | SIG Technical Reports(1) | |||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
公開日 | 1998-03-10 | |||||||
タイトル | ||||||||
タイトル | ソフトウェア機能試験手順の状態遷移表に基づいた生成法 | |||||||
タイトル | ||||||||
言語 | en | |||||||
タイトル | Methods for generating software functional test sequences from a state transition table | |||||||
言語 | ||||||||
言語 | jpn | |||||||
資源タイプ | ||||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||||
資源タイプ | technical report | |||||||
著者所属 | ||||||||
三菱電機株式会社情報技術総合研究所 | ||||||||
著者所属 | ||||||||
三菱電機株式会社情報技術総合研究所 | ||||||||
著者所属 | ||||||||
三菱電機株式会社情報技術総合研究所 | ||||||||
著者所属 | ||||||||
三菱電機セミコンダクタシステム株式会社 | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
Information Technology R & D Center, Mitsubishi Electric Corporation | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
Information Technology R & D Center, Mitsubishi Electric Corporation | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
Information Technology R & D Center, Mitsubishi Electric Corporation | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
Mitsubishi Electric Semiconductor System Corporation | ||||||||
著者名 |
山中, 弘
× 山中, 弘
|
|||||||
著者名(英) |
Hiroshi, Yamanaka
× Hiroshi, Yamanaka
|
|||||||
論文抄録 | ||||||||
内容記述タイプ | Other | |||||||
内容記述 | 本稿では,状態遷移表で記述されたマンマシン系のマイコン組込みソフトウェアの仕様に基づき,ソフトウェア機能試験手順を自動生成する方法について記述する.我々は,マイコン組込みソフトウェアのシステム試験工程を目的別に,機能適合試験,信頼性向上試験,再試験の3つに分類し,それぞれの性格にあった試験手順生成法について考察した.機能適合試験向けの試験手順生成法としては,従来から知られている手法を採用したが,信頼性向上試験,および再試験向けの試験手順生成法としては,それぞれ試験手順を部分手順毎に生成し結合する手法,および状態遷移のレイヤを指定して手順を生成する手法を新しく提案した. | |||||||
論文抄録(英) | ||||||||
内容記述タイプ | Other | |||||||
内容記述 | In this paper, we describe methods for generating test sequences from a state transition table, in which the specification of the man machine interface for microcomputer software is described. We classify the system testing for microcomputer software into three types in terms of its purpose: functional conformance, reliance, and regression testing. We considered the method that generates suitable test sequences for each test type, and established two new methods for reliance, and regression testing. The method for reliance testing is that can create partial test sequences and combine them. And the method for regression testing is that creates test sequences by the layer of state transition table. | |||||||
書誌レコードID | ||||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
収録物識別子 | AN10112981 | |||||||
書誌情報 |
情報処理学会研究報告ソフトウェア工学(SE) 巻 1998, 号 20(1997-SE-118), p. 119-126, 発行日 1998-03-10 |
|||||||
Notice | ||||||||
SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. | ||||||||
出版者 | ||||||||
言語 | ja | |||||||
出版者 | 情報処理学会 |