RC-014 A Feasibility Study of Active Current Testing

• Item type: FIT(1)
• 公開日: 2009-08-20
• タイトル / 言語: en
• タイトル: RC-014 A Feasibility Study of Active Current Testing
• 言語: eng
• キーワード / 言語: en
• キーワード / 主題Scheme: Other
• キーワード / 主題: CMOS circuits
• キーワード / 言語: en
• キーワード / 主題Scheme: Other
• キーワード / 主題: current testing
• キーワード / 言語: en
• キーワード / 主題Scheme: Other
• キーワード / 主題: fault detection
• キーワード / 言語: en
• キーワード / 主題Scheme: Other
• キーワード / 主題: input signal
• キーワード / 言語: en
• キーワード / 主題Scheme: Other
• キーワード / 主題: ramp voltage
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_5794
• 資源タイプ: conference paper
• 著者所属: 首都大
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Faculty of System Design, Tokyo Metropolitan University
• 著者名: 三浦, 幸也
• 著者名(英): Miura, Yukiya
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: This paper proposes a new current testing method, active current testing, for detecting various fault classes of CMOS circuits. The proposed method is an extended method of VDD ramp testing, and it is carried out by applying various input signals for the circuit under test. If a power supply current is measured by changing both a power supply voltage and an input signal, we can make the internal condition of a circuit various. Then, fault detection by current testing becomes more effective than conventional VDD ramp testing. We apply active current testing to two CMOS circuits, an operational amplifier and a level shifter, and demonstrate its fault detection ability. Except for the special case of circuit behavior, we found that active current testing can detect both hard faults (i.e., short and open faults) and soft faults (i.e., process variations and reliability degradation).
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AA1242354X
• 書誌情報: 情報科学技術フォーラム講演論文集; 巻 8, 号 1, p. 211-216, 発行日 2009-08-20
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会