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アイテム
RC-011 A Case Study on Identification of Circuit Variation by Transistor States
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/148274
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/148274af5faf19-26ec-43cd-80d9-f0c5b545dfa5
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
KJ00006439003.pdf (444.3 kB)
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Copyright (c) 2008 by IEICE,IPSJ
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| Item type | FIT(1) | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2008-08-20 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| 言語 | en | |||||||
| タイトル | RC-011 A Case Study on Identification of Circuit Variation by Transistor States | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | eng | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||||
| 資源タイプ | conference paper | |||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 首都大 | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Faculty of System Design, Tokyo Metropolitan University | ||||||||
| 著者名 |
三浦, 幸也
× 三浦, 幸也
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| 著者名(英) |
Miura, Yukiya
× Miura, Yukiya
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| 書誌レコードID | ||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
| 収録物識別子 | AA1242354X | |||||||
| 書誌情報 |
情報科学技術フォーラム講演論文集 巻 7, 号 1, p. 55-58, 発行日 2008-08-20 |
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| 出版者 | ||||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||
