WEKO3
アイテム
LC-005 Open Fault Detection in CMOS Combinational Circuits by Logic Testing with Precharging
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/147746
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/1477460b78efdb-510c-40e4-b5c5-9607e29962d7
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
KJ00006430935.pdf (472.1 kB)
|
Copyright (c) 2004 by IEICE,IPSJ
|
| Item type | FIT(1) | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2004-08-20 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| 言語 | en | |||||||
| タイトル | LC-005 Open Fault Detection in CMOS Combinational Circuits by Logic Testing with Precharging | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | eng | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||||
| 資源タイプ | conference paper | |||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Graduate School of Engineering, Tokyo Metropolitan University | ||||||||
| 著者名 |
三浦, 幸也
× 三浦, 幸也
|
|||||||
| 著者名(英) |
Miura, Yukiya
× Miura, Yukiya
|
|||||||
| 書誌レコードID | ||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
| 収録物識別子 | AA1197723X | |||||||
| 書誌情報 |
情報科学技術レターズ 巻 3, p. 39-42, 発行日 2004-08-20 |
|||||||
| 出版者 | ||||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||
