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  1. 全国大会
  2. 49回
  3. ハードウェア

複数ボード間のスキャンテストシステム

https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/127029
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/127029
74b7f6d3-1770-44df-81bd-105ccd7c5586
名前 / ファイル ライセンス アクション
KJ00001340530.pdf KJ00001340530.pdf (154.9 kB)
Item type National Convention(1)
公開日 1994-09-20
タイトル
タイトル 複数ボード間のスキャンテストシステム
タイトル
言語 en
タイトル A Scan Test System method for Multi Board
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_5794
資源タイプ conference paper
著者所属
株式会社東芝情報・通信システム妓術研究所
著者所属
株式会社東芝情報・通信システム妓術研究所
著者所属
株式会社東芝情報・通信システム妓術研究所
著者所属
株式会社東芝情報・通信システム妓術研究所
著者所属(英)
en
TOSHIBA Corporation
著者所属(英)
en
TOSHIBA Corporation
著者所属(英)
en
TOSHIBA Corporation
著者所属(英)
en
TOSHIBA Corporation
論文抄録
内容記述タイプ Other
内容記述 近年の計算機システムは、機能・性能の高度化に伴って、実装密度はより高〈、ボード上のパターンもいっそう複雑化している。このため、ボードのパターン切れやショート、コネクタの不良などの、初期故障に対する不良箇所の特定が難しくなってきている。特に制御分野で使用されるシステムでは、きめ細かなサポートが要求されるので、故障解析の難しさは、そのまま製品のコストアップにつながる。そこで、ボードの故障箇所を効率的に見つける手段として、バウンダリスキャンが注目される。本論では、高度産業用コンピュータVL2000シリーズで採用している、バウンダリスキャンを応用したテストシステムについて紹介する。
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AN00349328
書誌情報 全国大会講演論文集

巻 第49回, 号 ハードウェア, p. 155-156, 発行日 1994-09-20
出版者
言語 ja
出版者 情報処理学会
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Ver.1 2025-01-21 01:30:33.291224
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1994: 情報処理学会, 155–156 p.

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