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アイテム
複数ボード間のスキャンテストシステム
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/127029
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/12702974b7f6d3-1770-44df-81bd-105ccd7c5586
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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![]() |
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Item type | National Convention(1) | |||||
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公開日 | 1994-09-20 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | 複数ボード間のスキャンテストシステム | |||||
タイトル | ||||||
言語 | en | |||||
タイトル | A Scan Test System method for Multi Board | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||
資源タイプ | conference paper | |||||
著者所属 | ||||||
株式会社東芝情報・通信システム妓術研究所 | ||||||
著者所属 | ||||||
株式会社東芝情報・通信システム妓術研究所 | ||||||
著者所属 | ||||||
株式会社東芝情報・通信システム妓術研究所 | ||||||
著者所属 | ||||||
株式会社東芝情報・通信システム妓術研究所 | ||||||
著者所属(英) | ||||||
en | ||||||
TOSHIBA Corporation | ||||||
著者所属(英) | ||||||
en | ||||||
TOSHIBA Corporation | ||||||
著者所属(英) | ||||||
en | ||||||
TOSHIBA Corporation | ||||||
著者所属(英) | ||||||
en | ||||||
TOSHIBA Corporation | ||||||
論文抄録 | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 近年の計算機システムは、機能・性能の高度化に伴って、実装密度はより高〈、ボード上のパターンもいっそう複雑化している。このため、ボードのパターン切れやショート、コネクタの不良などの、初期故障に対する不良箇所の特定が難しくなってきている。特に制御分野で使用されるシステムでは、きめ細かなサポートが要求されるので、故障解析の難しさは、そのまま製品のコストアップにつながる。そこで、ボードの故障箇所を効率的に見つける手段として、バウンダリスキャンが注目される。本論では、高度産業用コンピュータVL2000シリーズで採用している、バウンダリスキャンを応用したテストシステムについて紹介する。 | |||||
書誌レコードID | ||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||
収録物識別子 | AN00349328 | |||||
書誌情報 |
全国大会講演論文集 巻 第49回, 号 ハードウェア, p. 155-156, 発行日 1994-09-20 |
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出版者 | ||||||
言語 | ja | |||||
出版者 | 情報処理学会 |