@inproceedings{oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00127029,
 book = {全国大会講演論文集},
 issue = {ハードウェア},
 month = {Sep},
 note = {近年の計算機システムは、機能・性能の高度化に伴って、実装密度はより高〈、ボード上のパターンもいっそう複雑化している。このため、ボードのパターン切れやショート、コネクタの不良などの、初期故障に対する不良箇所の特定が難しくなってきている。特に制御分野で使用されるシステムでは、きめ細かなサポートが要求されるので、故障解析の難しさは、そのまま製品のコストアップにつながる。そこで、ボードの故障箇所を効率的に見つける手段として、バウンダリスキャンが注目される。本論では、高度産業用コンピュータVL2000シリーズで採用している、バウンダリスキャンを応用したテストシステムについて紹介する。},
 pages = {155--156},
 publisher = {情報処理学会},
 title = {複数ボード間のスキャンテストシステム},
 volume = {第49回},
 year = {1994}
}