WEKO3
アイテム
FLAP : 故障解析プロセッサ : シミュレーション部評価
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/114932
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/114932272ebe3f-965d-4b61-a4bf-64f55aa82489
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
---|---|---|
![]() |
|
Item type | National Convention(1) | |||||
---|---|---|---|---|---|---|
公開日 | 1986-10-01 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | FLAP : 故障解析プロセッサ : シミュレーション部評価 | |||||
タイトル | ||||||
言語 | en | |||||
タイトル | FLAP : FauLt Analysis Processors : Investigation of simulation | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||
資源タイプ | conference paper | |||||
著者所属 | ||||||
沖電気工業(株) 超LSI研究所 | ||||||
著者所属 | ||||||
沖電気工業(株) 超LSI研究所 | ||||||
著者所属 | ||||||
沖電気工業(株) 超LSI研究所 | ||||||
著者所属 | ||||||
沖電気工業(株) 超LSI研究所 | ||||||
著者所属(英) | ||||||
en | ||||||
VLSI Research & Development Center OKI Electric Industry Co. ltd | ||||||
著者所属(英) | ||||||
en | ||||||
VLSI Research & Development Center OKI Electric Industry Co. ltd | ||||||
著者所属(英) | ||||||
en | ||||||
VLSI Research & Development Center OKI Electric Industry Co. ltd | ||||||
著者所属(英) | ||||||
en | ||||||
VLSI Research & Development Center OKI Electric Industry Co. ltd | ||||||
論文抄録 | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 弊社では、50Kゲート級のVLSIに適用すべく故障解析プロセッサ(FLAP:FauLt Analysis Processors)を開発し、実用化した。今回、FLAPの核である、コンカレント手法を用いた故障シミュレータの高速化を目的とした評価検討を行った。その中で、故障リスト中のX(Un-known)状態が約8割にもなり得ることを見出し、その削減手法について試行し、評価した。本稿では、その評価結果および試行結果について報告する。 | |||||
書誌レコードID | ||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||
収録物識別子 | AN00349328 | |||||
書誌情報 |
全国大会講演論文集 巻 第33回, 号 情報システム, p. 2299-2300, 発行日 1986-10-01 |
|||||
出版者 | ||||||
言語 | ja | |||||
出版者 | 情報処理学会 |