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LSI信頼性の統合解析方法
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/110848
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/11084895d2ea5b-c9e8-487c-85ff-a642759b7ce8
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
IPSJ-Z75-4A-1.pdf (566.0 kB)
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Copyright (c) 2013 by the Information Processing Society of Japan
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| オープンアクセス | ||
| Item type | National Convention(1) | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2013-03-06 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | LSI信頼性の統合解析方法 | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | jpn | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | アーキテクチャ | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||||
| 資源タイプ | conference paper | |||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 弘前大 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 弘前大 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 弘前大 | ||||||||
| 著者名 |
渡邊眞之
× 渡邊眞之
× 星誠× 黒川敦 |
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| 論文抄録 | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | LSIには様々な信頼性問題が存在する。昔は経年劣化の信頼性は製造課題とされてきたが微細化が進むにつれ設計で考慮することが多くなってきた。信頼性問題には、トランジスタでは負バイアス温度不安定性やホットキャリア、配線ではエレクトロマイグレーションがある。またランダムテレグラムノイズのようなばらつきが性能に悪影響を与えるものもある。本稿では性能劣化につながる種々の信頼性問題を統合的に扱い、回路の動作を解析する方法を示す。 | |||||||
| 書誌レコードID | ||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
| 収録物識別子 | AN00349328 | |||||||
| 書誌情報 |
第75回全国大会講演論文集 巻 2013, 号 1, p. 41-42, 発行日 2013-03-06 |
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| 出版者 | ||||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||
