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  1. 研究報告
  2. 組込みシステム(EMB)
  3. 2014
  4. 2014-EMB-032

三次元積層マルチコアプロセッサにおけるチップ温度を考慮した電圧制御

https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/99388
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/99388
0d69be99-8584-4798-8191-78b9c999df8d
名前 / ファイル ライセンス アクション
IPSJ-EMB14032041.pdf IPSJ-EMB14032041.pdf (2.6 MB)
 2100年1月1日からダウンロード可能です。
Copyright (c) 2014 by the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers
This SIG report is only available to those in membership of the SIG.
EMB:会員:¥0, DLIB:会員:¥0
Item type SIG Technical Reports(1)
公開日 2014-03-08
タイトル
タイトル 三次元積層マルチコアプロセッサにおけるチップ温度を考慮した電圧制御
タイトル
言語 en
タイトル Voltage control considering the chip temperature in the three-demensional stacked multi-core processors
言語
言語 jpn
キーワード
主題Scheme Other
主題 CPU/GPUと電力制御
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
資源タイプ technical report
著者所属
慶應義塾大学
著者所属
慶應義塾大学
著者所属
慶應義塾大学
著者所属
慶應義塾大学
著者所属(英)
en
Keio University
著者所属(英)
en
Keio University
著者所属(英)
en
Keio University
著者所属(英)
en
Keio University
著者名 藤田, 悠 小泉, 祐介 宇野, 理恵 天野, 英晴

× 藤田, 悠 小泉, 祐介 宇野, 理恵 天野, 英晴

藤田, 悠
小泉, 祐介
宇野, 理恵
天野, 英晴

Search repository
著者名(英) Yu, Fujita Yusuke, Koizumi Rie, Uno Hideharu, Amano

× Yu, Fujita Yusuke, Koizumi Rie, Uno Hideharu, Amano

en Yu, Fujita
Yusuke, Koizumi
Rie, Uno
Hideharu, Amano

Search repository
論文抄録
内容記述タイプ Other
内容記述 ビルディングブロック型計算システムのプロトタイプとしてワイヤレスチップ間接続を用いた Cube-1 が開発された。問題点としてワイヤレスチップ間接続を用いることでチップが完全に独立してしまい、TSV による積層チップなどと比較して中層のチップに熱がたまりやすいことが挙げられる。そこで本論文ではチップ内に組み込まれたリークモニタを温度を測るセンサとして用いて、チップ温度を観測し電圧を制御する手法を提案する。また温度によるチップの特性を調査し、チップ温度ごとに最適な電圧値を設定することでエネルギー効率の向上を目指す。提案である電圧制御を行うことで最大 5%のエネルギー効率の向上が見込まれる。
論文抄録(英)
内容記述タイプ Other
内容記述 Cube-1 is a prototype heterogeneous multiprocessor using inductive coupling wireless TCI (Through Chip Interface). Since intermediate chips in the stack are separated from the air and print circuit board, the thermal of the chip tends to be separated from others. In order to control the supply voltage of such chips sand-witched by the other chips, a leak monitor embedded in the chip is utilized. If the leakage current of the chip becomes too large, the power of the chip is shut down in order to avoid the thermal run-away. Also, by measuring the temperature precisely from the leak monitor, we can lower the supply voltage so that the delay with the measured temperature satisfies the programmed delay. By using this method, energy efficiency can be improved by 5% at maximum.
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA12149313
書誌情報 研究報告組込みシステム(EMB)

巻 2014-EMB-32, 号 41, p. 1-6, 発行日 2014-03-08
Notice
SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
出版者
言語 ja
出版者 情報処理学会
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Ver.1 2025-01-21 12:05:34.605038
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