@inproceedings{oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00094991,
 author = {内垣聖史 and 伊原彰紀 and 門田暁人 and 松本健一},
 book = {ソフトウェアエンジニアリングシンポジウム2013論文集},
 month = {Sep},
 note = {ソフトウェア開発におけるテスト工程の効率化を目的とした，欠陥が含まれている可能性の高いモジュールを予測する(欠陥モジュール予測)研究では，一般的に過去のバージョン開発終了時の学習データを用いてモデルが構築される．しかし昨今，アジャイル開発を導入するケースが増加し，開発途中であっても学習データの計測が可能となった．本論文では，学習データ計測時期による予測精度の違いを分析する．結果，予測時点に近い開発データを用いるほど，モデルの予測精度が高いことが分かった．},
 pages = {1--2},
 publisher = {情報処理学会},
 title = {学習データの時間的変化に伴う欠陥モジュール予測モデルの評価},
 volume = {2013},
 year = {2013}
}