@techreport{oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00090656,
 author = {風間, 佳之 and 作道, 直樹 and 段, 慧 and 木戸脇, 有美 and 平橋, 航 and 鴫原, 一人 and 海上, 智昭 and 本田, 晋也 and 高田, 広章 and Yoshiyuki, Kazama and Naoki, Sakudo and Kei, Dan and Ami, Kidowaki and Wataru, Hirahashi and Kazuto, Shigihara and Tomoaki, Unagami and Shinya, Honda and Hiroaki, Takada},
 issue = {2},
 month = {Mar},
 note = {近年の組込みソフトウェアの大規模化，高機能化のため，RTOSに対するメモリ保護機能の需要が高まっている．RTOSはソフトウェアの中核をなすため，高い品質が求められるが，メモリ保護機能に対するテストプロセスやテスト手法，テストの規模は明らかになっていない．本論文では，RTOSのメモリ保護機能に対するテストプロセスやテスト手法，テストの規模，およびテストの効果を明らかにした．メモリ保護機能に対応したRTOSとして，AUTOSAR仕様ベースのRTOSを使用した．, Needs for RTOS memory protection is growing due to recent trends in largescale, and high functional software. As RTOS compromises the core of software architecture, RTOS engineers are often faced with high levels of quality requirements. Despite the high and complicated requirements, not much has been clarified about the test process and method, or the test scale for memory protection. By adopting a new test method for AUTOSAR specification based RTOS, the present paper introduced the test process for memory protection, test method, as well as the effectiveness of the test procedure.},
 title = {メモリ保護対応RTOSにおけるメモリ保護機能のテスト},
 year = {2013}
}