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  1. 研究報告
  2. システムとLSIの設計技術(SLDM)
  3. 2012
  4. 2012-SLDM-158

解の再利用を用いたSATに基づくテスト生成におけるインスタンス順序と変数割当順序の決定法

https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/86956
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/86956
c248294b-749b-47f6-a779-405be8f0e961
名前 / ファイル ライセンス アクション
IPSJ-SLDM12158025.pdf IPSJ-SLDM12158025.pdf (903.8 kB)
 2100年1月1日からダウンロード可能です。
Copyright (c) 2012 by the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers
This SIG report is only available to those in membership of the SIG.
SLDM:会員:¥0, DLIB:会員:¥0
Item type SIG Technical Reports(1)
公開日 2012-11-19
タイトル
タイトル 解の再利用を用いたSATに基づくテスト生成におけるインスタンス順序と変数割当順序の決定法
タイトル
言語 en
タイトル Effective Orderings of Instances and Variable Assignments in SAT-based ATPG with Solution Reuse
言語
言語 jpn
キーワード
主題Scheme Other
主題 システム設計技術
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
資源タイプ technical report
著者所属
広島市立大学大学院情報科学研究科
著者所属
広島市立大学大学院情報科学研究科
著者所属
広島市立大学大学院情報科学研究科
著者所属
広島市立大学大学院情報科学研究科
著者所属(英)
en
Graduate School of Information Sciences, Hiroshima City University
著者所属(英)
en
Graduate School of Information Sciences, Hiroshima City University
著者所属(英)
en
Graduate School of Information Sciences, Hiroshima City University
著者所属(英)
en
Graduate School of Information Sciences, Hiroshima City University
著者名 上田, 健司 岩垣, 剛 市原, 英行 井上, 智生

× 上田, 健司 岩垣, 剛 市原, 英行 井上, 智生

上田, 健司
岩垣, 剛
市原, 英行
井上, 智生

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著者名(英) Kenji, Ueda Tsuyoshi, Iwagaki Hideyuki, Ichihara Tomoo, Inoue

× Kenji, Ueda Tsuyoshi, Iwagaki Hideyuki, Ichihara Tomoo, Inoue

en Kenji, Ueda
Tsuyoshi, Iwagaki
Hideyuki, Ichihara
Tomoo, Inoue

Search repository
論文抄録
内容記述タイプ Other
内容記述 本稿では充足可能性問題 (SAT) に基づくテスト生成問題を取り上げ,解を再利用しながら複数のインスタンスを解く状況下での求解の効率について議論するその効率に主に影響を与える 3 つの要素 (1) インスタンス順序, (2) 変数割当て順序, (3) 論理値割当てのうち前者 2 つに着目し,それらの効果的な決定法を提案する提案手法では,インスタンス順序を決定するために必要な類似度計算の回数を閾値によって減らし,手法全体の処理時間の削減を行うまた,解の再利用の履歴をリテラル単位で管理することによって変数割当て順序を決定し,解の探索効率を高める.本研究では,予備実験結果により提案手法で必要なパラメータ設定の指針を導くとともに,そのパラメータ設定の下で従来手法との比較実験を行い提案手法の有効性を示す.
論文抄録(英)
内容記述タイプ Other
内容記述 This report discusses the efficiency of iteratively solving various instances with solution reuse in test generation based on Boolean satisfiability (SAT). The efficiency is mainly affected by (1) instance ordering, (2) variable ordering and (3) logic value assignments. This work presents an effective method to determine two factors of (1) and (2). The proposed method aims at reducing the overall processing time by decreasing the number of similarity calculation, which is needed to determine an effective instance order, by means of a threshold value of similarity. The method also attempts to enhance the efficiency of searching solutions by determining an variable order with history of solution reuse in terms of literals. In this work, preliminary experiments are conducted to find out appropriate parameters used in the propose
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA11451459
書誌情報 研究報告システムLSI設計技術(SLDM)

巻 2012-SLDM-158, 号 25, p. 1-6, 発行日 2012-11-19
Notice
SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
出版者
言語 ja
出版者 情報処理学会
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