ライフサイクルの短いイノベーション時代における発明の単一性審査基準のあり方

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 2012-09-06
• タイトル: ライフサイクルの短いイノベーション時代における発明の単一性審査基準のあり方
• タイトル / 言語: en
• タイトル: Way of the Patent Examination Guidelines about unity of invention in the innovation era having a short product life cycle
• 言語: jpn
• キーワード / 主題Scheme: Other
• キーワード / 主題: イノベーションと特許
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 東京理科大学
• 著者所属: 東京理科大学
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Tokyo University of Science
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Tokyo University of Science
• 著者名: 近島, 浩; 平塚, 三好
• 著者名(英): Hiroshi, Chikashima; Mitsuyoshi, Hiratsuka
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: 今般の製品ライフサイクルの短い時代においては、特許権の早期権利化が重要となる。本稿では、現行の発明の単一性要件・シフト補正の禁止の規定によって、特許権の早期権利化が阻害されている点を指摘すると共に、その解決策を提示する。より具体的には、発明の単一性要件・シフト補正の禁止の運用において重要となる STF の 「直列的な」 認定手法が、出願人にとって酷になるケースを例示し、これを解決する STF の新たな認定手法を提案する。
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: In this era of short product life cycle recently, it is important to establish a patent right earlier. In this paper, we point out the inhabitation of early establishment of a patent right because of the requirements of unity of invention and the provision to prohibit making an amendment that changes special technical features(STF). Then, we present their solution. Specifically, we illustrate a case that a method of serially-certifying STF works tough for applicants, and propose a new method of certifying STF that resolves above-mentioned problems.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AN10116224
• 書誌情報: 研究報告マルチメディア通信と分散処理（DPS）; 巻 2012-DPS-152, 号 17, p. 1-6, 発行日 2012-09-06
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会