RMTテストの性能検証～NIST乱数検定との比較～

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 2012-05-10
• タイトル: RMTテストの性能検証～NIST乱数検定との比較～
• タイトル / 言語: en
• タイトル: Performance Verification of RMT-Test -Comparison with the NIST Randomness Test-
• 言語: jpn
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 鳥取大学大学院工学研究科情報エレクトロニクス専攻
• 著者所属: 鳥取大学大学院工学研究科情報エレクトロニクス専攻
• 著者所属: 鳥取大学大学院工学研究科情報エレクトロニクス専攻
• 著者所属: 鳥取大学大学院工学研究科情報エレクトロニクス専攻
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Tottori University, Graduate School of Engineering, Department of Information and Electronics
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Tottori University, Graduate School of Engineering, Department of Information and Electronics
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Tottori University, Graduate School of Engineering, Department of Information and Electronics
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Tottori University, Graduate School of Engineering, Department of Information and Electronics
• 著者名: 三賀森, 悠大; 楊, 欣; 糸井, 良太; 田中, 美栄子
• 著者名(英): Yuta, Mikamori; Xin, Yang; Ryota, Itoi; Mieko, Tanaka-Yamawaki
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: 我々が以前に提案した，RMTとの比較による乱数度計測法，すなわちRMTテストの誤差基準をNIST検定との比較によって再考察した結果を報告する．様々な乱数度の数列を用意するため，完全規則列から出発してそれにシャッフルをかけることにより，異なる乱数度のデータ列を作成し，RMTテストによりその乱数度を測定すると共に，15種類の検定法を持つNIST乱数検定の結果を用いてRMTテストとの比較実験を行なった．その結果，NIST乱数検定で良い乱数と見なせるシャッフル度に対応するデータ列では，RMTテストによる誤差が0.69%以下となり，先に擬似乱数列や物理乱数を用いて作成した乱数度評価基準よりも厳しい基準となる．NIST検定に掛けるために2進列に変換していることや，両テストにおけるデータ列の制限等を考慮すると，矛盾しているとまでは言えないが，RMTテストの誤差基準値の選定に対する新たな知見を得たと言える．
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: In this article, we report a new result of the error limit to be used for the RMT test, which we have proposed earlier in order to measure the randomness of one-dimensional data sequence based on the comparison to the theoretical value derived by the random matrix theory (RMT). This new limit is obtained by comparing the error level of RMT-test to the result of NIST test. We prepared data sequences of various levels of randomness by shuffling a regular sequence many times. The result shows that the RMT error must be less than 0.69% in order to satisfy the requirement of the NIST test. This new limit is severer than the limit that we have obtained in the study of pseudo-random sequences. Although we need to consider the fact that NIST test is applied only binary sequences and the conditions to apply the two tests are not the same, this result suggests us to reconsider the error limit of the RMT test in more detail.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AN10505667
• 書誌情報: 研究報告数理モデル化と問題解決（MPS）; 巻 2012-MPS-88, 号 15, p. 1-5, 発行日 2012-05-10
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会