組込みシステムトレース技術とその応用

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 2011-03-11
• タイトル: 組込みシステムトレース技術とその応用
• タイトル / 言語: en
• タイトル: Embedded System Trace Technology and the application
• 言語: jpn
• キーワード / 主題Scheme: Other
• キーワード / 主題: 組込みシステム
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 株式会社日立製作所中央研究所組込みシステム研究部
• 著者所属: 株式会社日立製作所中央研究所組込みシステム研究部
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Hitachi, Ltd., Central Research Laboratory Embedded Systems Research Department
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Hitachi, Ltd., Central Research Laboratory Embedded Systems Research Department
• 著者名: 長野, 岳彦; 亀山, 達也
• 著者名(英): Takehiko, Nagano; Tatsuya, Kameyama
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: 組込みシステムの高機能化・高信頼化が進んでいるが，メーカ間のシェア競争は激化し，開発コストの削減が望まれている．組込みシステムの障害には様々あるが，工程遅延に大きく影響を与える障害として，再現性の低いソフトウェア障害がある．再現性の低いソフトウェア障害が工程遅延に影響する原因の一つは，組込みシステム自体の記録領域が小さいため，再現条件特定のために，何度も試行錯誤しながら情報を取得する点にある．本報告では，この試行錯誤的な対策を回避するため，外部記録媒体に記録可能な，長時間トレースシステムを提案し，評価した．また，既存のトレース技術の課題であった，製品毎への移植の必要性と，今後増えるインターネット接続による，出荷後のソフトウェア構成変更に対応するための，動的なトレース内容の変更を実現する，製品出荷後トレース技術を提案し，評価した．更に，長時間トレース実現の副作用である，対象のログ増大による解析効率悪化という新たな課題に対し，データマイニングを用いて，解析対象のログを削減する手法を提案し，解析効率向上の見込みを得た．
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: Performance and reliability of embedded systems has advanced. However, it is desired to reduce costs. Because the competition for getting market share among manufacturers is intensifying. Although many variety of embedded system failure is exist, One of the main reasons for the delay is not reproducible software failure. Recording Resources of embedded systems is small, so we need trial and error to obtain reproduction information. In this paper, we propose a long time tracing system to solve above problem. And we examined the proposed method. In addition, We propose the running products tracing method to solve the problems of existing tracing method. Above problem consists of two problems, One is ported by product, Second is dynamic changing tracing contents for software configuration changes using internet. And we examined the proposed method. Finally, we got a new problem of the efficiency degradation due to increased log data using long time tracing system. To solve the problem, we propose a log reducing method using data-mining. And we obtained good result to improve efficiency analysis.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AA11451459
• 書誌情報: 研究報告システムLSI設計技術（SLDM）; 巻 2011-SLDM-149, 号 22, p. 1-6, 発行日 2011-03-11
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会