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  1. 研究報告
  2. システムとLSIの設計技術(SLDM)
  3. 2011
  4. 2011-SLDM-148

Via数削減による大規模LSIレイアウトの高速DRC手法

https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/71814
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/71814
a2e831e7-2fda-4416-974e-475a76e7934e
名前 / ファイル ライセンス アクション
IPSJ-SLDM11148017.pdf IPSJ-SLDM11148017 (667.6 kB)
Copyright (c) 2011 by the Information Processing Society of Japan
オープンアクセス
Item type SIG Technical Reports(1)
公開日 2011-01-10
タイトル
タイトル Via数削減による大規模LSIレイアウトの高速DRC手法
タイトル
言語 en
タイトル The High-speed DRC Technique for VLSI Layout by Reducing Vias
言語
言語 jpn
キーワード
主題Scheme Other
主題 システムLSI設計技術
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
資源タイプ technical report
著者所属
TOOL株式会社EDA製品事業部
著者所属
TOOL株式会社EDA製品事業部
著者所属
TOOL株式会社EDA製品事業部
著者所属
早稲田大学大学院情報生産システム研究科
著者所属(英)
en
Technical Department EDA Product Division, TOOL Corporation
著者所属(英)
en
Technical Department EDA Product Division, TOOL Corporation
著者所属(英)
en
Technical Department EDA Product Division, TOOL Corporation
著者所属(英)
en
The Graduate School of Information, Production and System, Waseda University
著者名 亀井, 智紀 安部, 拓哉 本垰, 秀昭 渡邊, 孝博

× 亀井, 智紀 安部, 拓哉 本垰, 秀昭 渡邊, 孝博

亀井, 智紀
安部, 拓哉
本垰, 秀昭
渡邊, 孝博

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著者名(英) Tomoki, Kamei Takuya, Anbe Hideaki, Hontao Takahiro, Watanabe

× Tomoki, Kamei Takuya, Anbe Hideaki, Hontao Takahiro, Watanabe

en Tomoki, Kamei
Takuya, Anbe
Hideaki, Hontao
Takahiro, Watanabe

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論文抄録
内容記述タイプ Other
内容記述 GDSⅡ などのレイアウトデータでは,多層配線の配線間の接続箇所に Via が使用されているが,近年,DFM (Design for Manufacturability) 技術の浸透により,配置される Via の数が爆発的に増加している.Via 図形のデータが増加すると,DRC (Design Rule Check) を行う EDA ツールにとっては,計算コストが増大し,解析に多くの時間とメモリ空間を必要とする.そこで本研究では,解析データから Via を必要最小限まで擬似的に削減し,その上で DRC の一つである配線幅チェックを行った.Via を削減しない場合と比較して,数倍~数百倍解析時間が短縮された.
論文抄録(英)
内容記述タイプ Other
内容記述 In layout data such as GDS II, Vias are used for connection points between multilayer wiring. In recent years, the number of Vias to be arranged has been increasing explosively in accordance with the spread of DFM (Design for Manufacturability) technology. Increase of Via graphic data would rise computation costs for an EDA tool that performs DRC (Design Rule Check) and require long time and memory space for an analysis. Therefore, in this study, Vias were spuriously reduced to minimum from analysis data and the wire width was checked, which was one of the DRCs. Comparing with the case that Vias are not reduced, analysis time has been shortened by several times - several hundred times.
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA11451459
書誌情報 研究報告システムLSI設計技術(SLDM)

巻 2011-SLDM-148, 号 17, p. 1-6, 発行日 2011-01-10
Notice
SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
出版者
言語 ja
出版者 情報処理学会
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Ver.1 2025-01-21 22:40:17.412872
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