@techreport{oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00028394,
 author = {立石, 昭光 and 新田, 進 and Akimitsu, Tateishi and Susumu, Nitta},
 issue = {74(1987-SLDM-039)},
 month = {Oct},
 note = {本報告は、東芝標準テストデータインターフェース言語(TSTL2 : Toshiba Standard Test data interface Language)・テストデータベース・TSTL2コンパイラ、TSTL2逆コンパイラ、論理シミュレータ／機能シミュレータインターフェース、テスタインターフェース等VLSIテストデータ自動処理システムの開発について述べたものである。本システムではテストデータベース(TIF:Test data Interface File)を中心に構築し、東芝標準テストデータインターフェース言語によって、論理シミュレーション／機能シミュレーションやテスタ用のデータ作成、テスタの制約事項に対するエラーチェック等を自動的に行うことが可能となり、テストデータの移植性が向上し、LSIテスタのテストプログラムの開発期間が短縮された。, This paper describes a test data generation system for VLSI. This system consists of Toshiba Standard Test data interface language (TSTL2), TSTL2 complier, TSTL2 reverse-compiler, a logic/function simulator interface, a tester interface and Test data Interface File (TIF) at the core. The same test description in TSTL2 may be compiled to run against logic/function simulations and testers. It has proved do be an effective tool for cutting testing time.},
 title = {VLSIテストデータ自動処理システムの開発},
 year = {1987}
}