@techreport{oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00028344,
 author = {梶原, 誠司 and 温暁青 and 板崎徳禎 and 樹下行三 and Seiji, Kajihara and Wen, Xiaoqing and Noriyoshi, Itazaki and Kozo, Kinoshita},
 issue = {78(1988-SLDM-044)},
 month = {Oct},
 note = {電子ビームテスターを用いる論理回路のテストでは回路内部の信号線を直接観測できるためテストパターンは故障の影響を外部出力へ伝搬させる必要はなく仮定する故障をその素子の出力線で検出する入力パターンを生成するだけでよいことになる。本研究ではこのような可観測性のよい環境においてより少ないパターン数で順序回路の縮退故障とスタック・オープン故障を検出するテストパターン生成手法について述べる。, In testing logic circuits using the electron beam tester, it is sufficient to generate test patterns which can detect faults at the output line of gates, not necessary to propagate the fault effect to primary outputs, because all output lines are assumed to be observable. In this paper, under such observable circumstances we will show a method for generating test patterns which can detect stuck-at faults and stuck-open faults in sequential circuits by smaller number of patterns.},
 title = {可観測な環境でのテストパターン生成について},
 year = {1988}
}