多重論理設計誤りを対象とする自動追跡手法

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 1991-12-12
• タイトル: 多重論理設計誤りを対象とする自動追跡手法
• タイトル / 言語: en
• タイトル: An Algorithm for Locating Multiple Logic Design Errors.
• 言語: jpn
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 神戸大学大学院 自然科学研究科
• 著者所属: 神戸大学大学院 自然科学研究科
• 著者所属: （株）東芝 半導体CAD技術部
• 著者所属: 神戸大学大学院 自然科学研究科
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): The Graduate School of Science and Technology, Kobe University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): The Graduate School of Science and Technology, Kobe University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Semiconductor CAD Engineering Dept., Toshiba Corp.
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): The Graduate School of Science and Technology, Kobe University
• 著者名: 上田, 伸人; 菅沼, 直昭; 山本, 保; 冨田, 昌宏
• 著者名(英): Nobuto, Ueda; Naoaki, Suganuma; Tamotsu, Yamamoto; Masahiro, Tomita
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: 機能記述との論理的一致比較等により，論理回路に誤りが含まれることが判明すると，従来は人手で誤りの箇所を追跡・修正する必要があった．この問題に対処するため，我々は組み合わせ回路や同期式順序回路のゲート機能の誤りや信号線欠落などの設計誤りが単一に存在する場合に，誤り追跡人力を用いて自動的に追跡するX?伝搬法をすでに提案している．本稿では，この手法を拡張して，多重誤りに対応可能とした手法 : 拡張X?伝搬法を提案する．本手法は，回路中の複数の箇所の組み合わせについて，各箇所を同時に修正した場合の信号値伝搬を，誤りの可能性の指標や，6値シミュレーションを用いて評価する点に特徴がある．誤りの種類を対応させない箇所の組み合わせの段階で，可能な限り候補を絞ることにより，効率よく多重誤り追跡を行う．ISCASベンチマーク回路と実際の設計例に多重誤りを仮定した回路に対して本手法を適用した結果，すべての例で誤り追跡と修正法の提示が可能となった．
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: In manual design, it is neecssary not only to detect but also to locate the logic design errors that may exist in a gate level circuit. We have already proposed the error locating algorithm for single design errors in combinational circuits or in synchronous sequential circuits. However, nothing has been proposed for locating multiple design errors. In this paper, we propose the EX-algorithm to solve it. The algorithm employs an error possibility index (EPI) and 6-valued simulation method to avoid exhaustive simulation. Without considering error types at first, the algorithm evaluates signal values in case errors are rectified at a set of assumed locations. The EX-algorithm has been applied to ISCAS benchmark circuits and real VLSI design, containing multiple design errors. The results have shown the effectiveness of the algorithm for locating and correcting multiple design errors.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AA11451459
• 書誌情報: 情報処理学会研究報告システムLSI設計技術（SLDM）; 巻 1991, 号 110(1991-SLDM-060), p. 185-192, 発行日 1991-12-12
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会