WEKO3
アイテム
欠陥ベース故障診断手法
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/27592
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/275921878f7c9-88b5-4562-be66-2b3f8bc7dda3
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
IPSJ-SLDM00100005.pdf (815.6 kB)
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Copyright (c) 2001 by the Information Processing Society of Japan
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| オープンアクセス | ||
| Item type | SIG Technical Reports(1) | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2001-02-09 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | 欠陥ベース故障診断手法 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| 言語 | en | |||||||
| タイトル | A Defect - Based Diagnostic Method | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | jpn | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||||
| 資源タイプ | technical report | |||||||
| 著者所属 | ||||||||
| （株）日立製作所デバイス開発センタ | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| （株）日立製作所デバイス開発センタ | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| （株）日立製作所デバイス開発センタ | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| （株）日立製作所デバイス開発センタ | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| （株）日立製作所中央研究所 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 日立エンジニアリング（株） | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Hitachi Ltd. Device Development Center | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Hitachi Ltd. Device Development Center | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Hitachi Ltd. Device Development Center | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Hitachi Ltd. Device Development Center | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Hitachi Ltd. Central Research Laboratory | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Hitachi Engineering Ltd. | ||||||||
| 著者名 |
山中, 宏樹
佐藤, 康夫
池田, 聡雄
山崎, 巌
小林, 誠治
高倉, 正博
× 山中, 宏樹 佐藤, 康夫 池田, 聡雄 山崎, 巌 小林, 誠治 高倉, 正博
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| 著者名(英) |
Hiroki, Yamanaka
Yasuo, Sato
Toshio, Ikeda
Iwao, Yamazaki
Seiji, Kobayashi
Masahiro, Takakura
× Hiroki, Yamanaka Yasuo, Sato Toshio, Ikeda Iwao, Yamazaki Seiji, Kobayashi Masahiro, Takakura
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| 論文抄録 | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | LSIの高集積化や多層化に伴い、物理解析装置による解析が困難になってきている。そのため、テスト結果を用いてソフトウェアで高精度に故障位置を特定する技術が求められている。ソフトウェアの故障位置指摘では従来まで単一縮退故障モデルによる診断手法がとられてきたが、多様な欠陥に対して高精度な故障位置指摘を行うため、故障動作を正確にモデル化した故障診断を可能とした。また、モデル化による故障診断で完全に指摘できない故障に対しては、故障候補の周辺論理を調査する拡張モデル故障診断手法を確立した。本稿では、配線系のブリッジ、オープン欠陥及びセル内故障に対し、ファンクションテスト及びIDDQテストでの故障診断により、高精度に故障位置を絞り込む手法について紹介する。 | |||||||
| 論文抄録(英) | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | It has been becoming more difficult to diagnose the faulty LSIs using physical analysis techniques, because of the high density of LSIs and the multi-layer of metal wires. Therefore, the software technique is strongly needed to locate a fault with high accuracy. Using a method based on fault models that well describe behavior of physical defects, we achieved higher accuracy in fault diagnosis than that of conventional methods based on single Stack-At fault mode. Besides, we supported the un-modeled defects by utilizing the logical behavior of surrounding circuits. In this paper, we propose a diagnostic method of high accuracy that locates a bridging/open fault and an intra-cell fault using functional test and IDDQ test results. | |||||||
| 書誌レコードID | ||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
| 収録物識別子 | AA11451459 | |||||||
| 書誌情報 |
情報処理学会研究報告システムLSI設計技術（SLDM） 巻 2001, 号 12(2000-SLDM-100), p. 33-40, 発行日 2001-02-09 |
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| Notice | ||||||||
| SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. | ||||||||
| 出版者 | ||||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||
