集積回路の配線インダクタンスの解析モデルの測定による検証

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 2003-05-15
• タイトル: 集積回路の配線インダクタンスの解析モデルの測定による検証
• タイトル / 言語: en
• タイトル: Verification of Analytical Model for Wiring Inductance with Measurement
• 言語: jpn
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 東京大学大学院工学系研究科
• 著者所属: 東京大学大規模集積システム設計教育研究センター
• 著者所属: 東京大学大規模集積システム設計教育研究センター
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Faculty of Engineering, University of Tokyo
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): VLSI Design and Education Center, University of Tokyo
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): VLSI Design and Education Center, University of Tokyo
• 著者名: 宮地, 幸祐; 池田, 誠; 浅田, 邦博
• 著者名(英): Kousuke, Miyaji; Makoto, Ikeda; Kunihiro, Asada
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: 本稿では、Grover's Formulaと呼ばれる配線インダクタンスの解析モデルを検証する。これは、ノイマンの相互インダクタンス公式から導出される、平行で任意の位置関係にある２本の直線導線間の相互インダクタンスが計算可能な解析的近似式と、幾何学的平均距離（G.M.D.）、算術的平均距離（A.M.D.）を用いた自己インダクタンスの解析的近似式から成る。この解析モデルを用いて導線のインダクタンスを抽出し、基板上にスケールアップして作成したインダクタを測定することで検証を行った。これにより自己インダクタンスについては解析モデルと測定間の最大誤差が18％、相互インダクタンスは16％という結果を得た。
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: In this paper, we verify an analytical model for wiring inducatance extraction called "Grover's Formula". This model consists of two approximate expressions, which are expressing mutual inductance of parallel two wires of any spatial relationship, which based on Neuman's formula and self inductance with using geometrical mean distance（G.M.D.）and arithmetric mean distance（A.M.D.）. Using this model, we extracted wiring inductance and we show measurement results of scaled-up indutors patterned on printed circuit boards (PCBs). The maximum error of the analytical model in self inductance was less than 18%, and in mutual inductance, it was less than 16%.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AA11451459
• 書誌情報: 情報処理学会研究報告システムLSI設計技術（SLDM）; 巻 2003, 号 46(2003-SLDM-110), p. 37-42, 発行日 2003-05-15
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会