@techreport{oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00027232,
 issue = {122(2004-SLDM-117)},
 month = {Dec},
 note = {価格競争力を支える半導体試験・測定システムを中心とした技術開発戦略や産業財産戦略をグローバルな視点から検討することの重要性はきわめて高い。半導体試験・測定システムに関し、特許情報を中心に、市場動向、技術開発動向、国際競争力、将来展望について、調査分析を実施した。その調査結果について報告を行う。, It is very important to consider both strategies, R&D and intellectual property from the global viewpoint, relating to semiconductor testing system which leads price competitiveness. We mainly investigated pated database and analyzed trends in markets, technological development and international competitiveness, and forecasts in the field of semiconductor testing system. We will report the investigation result.},
 title = {［招待講演]半導体試験・測定システム　－平成15年度特許出願技術動向調査－},
 year = {2004}
}