動的再構成可能デバイスの耐故障化に関する検討

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 2005-01-25
• タイトル: 動的再構成可能デバイスの耐故障化に関する検討
• タイトル / 言語: en
• タイトル: A Discussion on Fault Tolerance of Dynamic Reconfigurable Device
• 言語: jpn
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻
• 著者所属: 京都大学工学部電気電子工学科
• 著者所属: 京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻
• 著者所属: 京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻
• 著者所属: 京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻
• 著者所属: 京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻
• 著者所属: 京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Department of Communications and Computer Engineering Graduate School of Informatics Kyoto University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Shool of Electrical and Electronic Engineering Faculty of Engineering Kyoto University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Department of Communications and Computer Engineering Graduate School of Informatics Kyoto University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Department of Communications and Computer Engineering Graduate School of Informatics Kyoto University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Department of Communications and Computer Engineering Graduate School of Informatics Kyoto University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Department of Communications and Computer Engineering Graduate School of Informatics Kyoto University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Department of Communications and Computer Engineering Graduate School of Informatics Kyoto University
• 著者名: 越智, 直紀; 中原, 健太郎; 森江, 太士; 神山, 真一; 泉, 知論; 越智, 裕之; 中村, 行宏
• 著者名(英): Naoki, Ochi; Kentaro, Nakahara; Futoshi, Morie; Shin`ichi, Kouyama; Tomonori, Izumi; Hiroyuki, Ochi; Yukihiro, Nakamura
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: 再構成可能デバイスを用いることで、遠隔地からのシステムの更新や、故障発生に際し故障箇所を避けて回路を再構成することによるシステムの回復などが可能になると期待されており、ハードウェアの保守が困難な宇宙開発などの分野から注目されている。しかし、宇宙空間等の過酷な状況ではメモリ上の構成情報の破損が頻発し、それが実用の妨げとなっている。本研究では、そのような構成情報の破損に耐えうる動的再構成システムの開発を目指す。本稿では、まず再構成可能システムに関連する耐故障化の研究開発の動向を示し、次に動的再構成デバイスの耐故障化について基礎的な検討を行う。デバイス･アーキテクチャとして、多重化と多数決に基づくもの、エラー訂正符号に基づくものを挙げる。これらは、動的再構成能力を積極的に活用することで破損した構成情報を自律的に修復する。
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: Reconfigurable logic devices are expected to be key devices for systems in severe environment such as spacecrafts, satellites, nuclear power plants and so on, since a system with such devices can be updated remotely by uploading new configuration data and, even for the case of physical defects, may be reconfiguration excluding faulty parts. However, in order to utilize reconfigurable devices in such a severe environment, we have to cope with logical defects of configuration data. Our goal is to enhance fault tolerance of dynamic reconfigurable systems especially to logical defects in configuration data. In this peper, we review previous works on fault tolerance of reconfigurable systems. Then, we discuss on frameworks of device architectures to enhance fault tolerance. We propose two types of architectures, one based on majority voting, and the other based on error-correcting codes. Both of them correct faults in configuration data autonomously utilizing the ability of dynamic reconfiguration.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AA11451459
• 書誌情報: 情報処理学会研究報告システムLSI設計技術（SLDM）; 巻 2005, 号 8(2004-SLDM-118), p. 23-28, 発行日 2005-01-25
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会