WEKO3
アイテム
電流基板制御方式による基板ノイズ低減及びランダムばらつき抑制効果
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/27143
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/2714349b84c9e-f4b2-41f1-9dc7-5fc48824989c
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
IPSJ-SLDM05121021.pdf (980.2 kB)
|
Copyright (c) 2005 by the Information Processing Society of Japan
|
|
| オープンアクセス | ||
| Item type | SIG Technical Reports(1) | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2005-10-21 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | 電流基板制御方式による基板ノイズ低減及びランダムばらつき抑制効果 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| 言語 | en | |||||||
| タイトル | substrate-Noise and Random-Fluctuations Reduction with Self-Adjusted Forward Body Bias | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | jpn | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||||
| 資源タイプ | technical report | |||||||
| 著者所属 | ||||||||
| （株）半導体理工学研究センター（STARC）設計技術開発部 低電力技術開発室 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| （株）半導体理工学研究センター（STARC）設計技術開発部 低電力技術開発室 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| （株）半導体理工学研究センター（STARC）設計技術開発部 低電力技術開発室 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| （株）半導体理工学研究センター（STARC）設計技術開発部 低電力技術開発室 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 神戸大学 工学部 情報知能工学科 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 神戸大学 工学部 情報知能工学科 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 神戸大学 工学部 情報知能工学科 | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Semiconductor Technology Academic Research Center (STARC) | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Semiconductor Technology Academic Research Center (STARC) | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Semiconductor Technology Academic Research Center (STARC) | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Semiconductor Technology Academic Research Center (STARC) | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Kobe University | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Kobe University | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Kobe University | ||||||||
| 著者名 |
小松, 義英
石橋, 孝一郎
塚田敏郎
山本雅晴
島崎, 健二
深澤, 光弥
永田, 真
× 小松, 義英 石橋, 孝一郎 塚田敏郎 山本雅晴 島崎, 健二 深澤, 光弥 永田, 真
|
|||||||
| 著者名(英) |
Yoshihide, Komatsu
Koichiro, Ishibashi
Masaharu, Yamamoto
Toshiro, Tsukada
Kenji, Shimazaki
Mitsuya, Fukamwa
Makoto, Nagata
× Yoshihide, Komatsu Koichiro, Ishibashi Masaharu, Yamamoto Toshiro, Tsukada Kenji, Shimazaki Mitsuya, Fukamwa Makoto, Nagata
|
|||||||
| 論文抄録 | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | セルフアジャスト順方向基板制御方式（SA－FBB）を用いた際の基板ノイズ低減効果、及びランダムばらつき低減効果について報告する。効果を測定、確認するために2つのテストチップを用意した。1つ目のチップには様々な周波数のノイズ源とそのノイズを検出するためのオンチップオシロスコープが搭載していて、基板制御時のノイズ低減効果が測定できる。130nmCMOS、3－wellプロセスを用いた。2つ目のチップには10M個のトランジスタを搭載し、基板制御を行った際のランダムぱらつきの傾向の測定ができる。SA－FBBを用いると基板ノイズ（Wellノイズ）は最大70.2％低減効果があり、ランダムばらつきб(Ids)は最大57.9％程度低減効果がある。 | |||||||
| 論文抄録(英) | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | We propose a method of reducing substrate noise and random fluctuations utilizing a self-adjusted forward body bias (SA-FBB) circuit. To achieve this, we designed a test chip that contained an on-chip oscilloscope for detecting dynamic noise from various frequency noise sources, and another test chip that contained 10-M transistors for measuring random fluctuation tendencies. Under SA-FBB conditions, it reduced noise by 69.8% and reduced random fluctuations б(Ids) by 57.9%. | |||||||
| 書誌レコードID | ||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
| 収録物識別子 | AA11451459 | |||||||
| 書誌情報 |
情報処理学会研究報告システムLSI設計技術（SLDM） 巻 2005, 号 102(2005-SLDM-121), p. 125-130, 発行日 2005-10-21 |
|||||||
| Notice | ||||||||
| SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. | ||||||||
| 出版者 | ||||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||
