WEKO3
アイテム
離散遅延値を持つPDEを用いたクロックデスキュー手法
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/26918
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/2691815042f37-7711-454c-a788-0d394b408069
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
---|---|---|
![]() |
Copyright (c) 2007 by the Information Processing Society of Japan
|
|
オープンアクセス |
Item type | SIG Technical Reports(1) | |||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
公開日 | 2007-05-11 | |||||||
タイトル | ||||||||
タイトル | 離散遅延値を持つPDEを用いたクロックデスキュー手法 | |||||||
タイトル | ||||||||
言語 | en | |||||||
タイトル | A Clock Deskew Method using PDE with Discrete Delay | |||||||
言語 | ||||||||
言語 | jpn | |||||||
資源タイプ | ||||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||||
資源タイプ | technical report | |||||||
著者所属 | ||||||||
北九州市立大学国際環境工学部 | ||||||||
著者所属 | ||||||||
北九州市立大学国際環境工学部 | ||||||||
著者所属 | ||||||||
北九州市立大学国際環境工学部 | ||||||||
著者所属 | ||||||||
NECシステムIPコア研究所 | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
Faculty of Environmental Engineering, The University of Kitakyushu | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
Faculty of Environmental Engineering, The University of Kitakyushu | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
Faculty of Environmental Engineering, The University of Kitakyushu | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
System IP Core Research Labs., NEC Corp. | ||||||||
著者名 |
橋爪裕子
大谷, 直毅
高島, 康裕
中村, 祐一
× 橋爪裕子 大谷, 直毅 高島, 康裕 中村, 祐一
|
|||||||
著者名(英) |
Yuko, HASHIZUME
Naoki, Otani
Yasuhiro, TAKASHlMA
Yuichi, NAKAMURA
× Yuko, HASHIZUME Naoki, Otani Yasuhiro, TAKASHlMA Yuichi, NAKAMURA
|
|||||||
論文抄録 | ||||||||
内容記述タイプ | Other | |||||||
内容記述 | 近年のLSI製造では微細化が進み,その結果,チップの性能向上は目覚しい進歩が見られる反面,設計時に想定していた様々な性能値から製造時にずれが生じるいわゆる製造ばらつきが深刻な問題になっている.その対策のひとつとして製造後に遅延値調整できる素子(PDE)をクロックツリーに挿入し,クロック到着時刻を調整するデスキュー手法がある.既存のデスキュー手法では,製造ばらつきは正規分布に従う仮定の下に-部のFFにおけるクロック到着時刻を測定し,その値に基づきFF対間のクロック到着時刻差を推定することによって,PDEの遅延量を線形計画法で決定していた.線形計画法を利用するために従来手法では,連続遅延値を持つPDEの利用を仮定する必要があり,現実問題への適用が困難となっていた.そこで,本稿では現実の問題に対応するために,PDEが離散遅延量を持つ場合に対するデスキュー手法を提案する.提案手法では,制約式がtotallyunimodularになることを利用して,線形計画法によりPDEの遅延値が決定可能となった.実験により,無施策だと良品率19.4%しかない例題LSIに対して,遅延素子一個分の遅延量が30psであるPDE16個を用いて全体の0.15%のFFのクロック到着時刻を測定することにより85.4%へ改善可能であるなど提案手法の有効性を確認した. | |||||||
論文抄録(英) | ||||||||
内容記述タイプ | Other | |||||||
内容記述 | In deep-submicron technology, process variations can severely affect the performance and the yield of VLSI chips. As a countermeasure to the variations, deskew, which inserts Programmable Delay Elements (PDEs) into the clock tree and adjusts the clock arrival times of FFs, has been proposed. One of the previous deskew methods measures the arrival clock times of small amount of FFs and presumes that of the others under the assumption that process variation follows Gaussian distribution. This method assumed that PDEs have continuous delay value. We extend this method to handle PDEs which have discrete delay value. We utilize that the constraints hold totally unimodular and decide the delay values of PDEs by the linear programming. Our experiments show that the yield is improved from 19.4% to 85.4% after applying deskew method for a sample when the arrival times for 0.15% of total FFs are measured and the delays of 16 PDEs with delay steps of 30ps are tuned. | |||||||
書誌レコードID | ||||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
収録物識別子 | AA11451459 | |||||||
書誌情報 |
情報処理学会研究報告システムLSI設計技術(SLDM) 巻 2007, 号 39(2007-SLDM-130), p. 45-50, 発行日 2007-05-11 |
|||||||
Notice | ||||||||
SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. | ||||||||
出版者 | ||||||||
言語 | ja | |||||||
出版者 | 情報処理学会 |