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  1. 研究報告
  2. システムとLSIの設計技術(SLDM)
  3. 2024
  4. 2024-SLDM-207

アービターPUFを組込んだ遅延検査容易化設計について

https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/240495
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/240495
60b516e3-fc39-4811-837a-ba5a6e41ae90
名前 / ファイル ライセンス アクション
IPSJ-SLDM24207013.pdf IPSJ-SLDM24207013.pdf (1.2 MB)
Copyright (c) 2024 by the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers This SIG report is only available to those in membership of the SIG.
SLDM:会員:¥0, DLIB:会員:¥0
Item type SIG Technical Reports(1)
公開日 2024-11-05
タイトル
タイトル アービターPUFを組込んだ遅延検査容易化設計について
タイトル
言語 en
タイトル On design of a delay testable circuit with an embedded arbiter PUF
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
資源タイプ technical report
著者所属
徳島大学大学院創成科学研究科電気電子システムコース
著者所属
徳島大学大学院社会産業理工学研究部
著者所属
放送大学徳島学習センター
著者所属(英)
en
Graduate School of Advanced Technology and Science, Tokushima University
著者所属(英)
en
Graduate School of Technology, Industrial and Social Science, Tokushima University
著者所属(英)
en
Tokushima Study Center The Open University of Jaspan
著者名 三木, 勇人

× 三木, 勇人

三木, 勇人

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四柳, 浩之

× 四柳, 浩之

四柳, 浩之

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橋爪, 正樹

× 橋爪, 正樹

橋爪, 正樹

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著者名(英) Hayato, Miki

× Hayato, Miki

en Hayato, Miki

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Hiroyuki, Yotsuyanagi

× Hiroyuki, Yotsuyanagi

en Hiroyuki, Yotsuyanagi

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Masaki, Hashizume

× Masaki, Hashizume

en Masaki, Hashizume

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論文抄録
内容記述タイプ Other
内容記述 近年,偽造 IC の増加が電子機器の信頼性とセキュリティに対する主な脅威となっている.そこで,IC チップの信頼性とセキュリティ機能の向上のための技術として Physically Unclonable Function (PUF) が期待されている.PUF は,トランジスタの閾値や配線寄生容量などの製造時に発生するばらつきを利用して固有値を生成し,IC チップの個体識別を行うことができる.しかし,固有値生成を行うには PUF 回路を追加する必要があり,エリアオーバーヘッドが問題となる.そこで,遅延検査容易化設計に遅延型 PUF の 1 種であるアービター PUF を組み込む手法を提案し,設計,面積評価とシミュレーションを行った.シミュレーションを行った結果,レスポンスが不定値として出力されたため,シミュレーション上で信号遷移が同時であるように設計されたことを確認した.また,アービター PUF を直接追加実装するよりもエリアオーバーヘッドが抑制可能であることも確認した.
論文抄録(英)
内容記述タイプ Other
内容記述 In recent years, the increase in counterfeit ICs has become one of the main threats to the reliability and security of electronic devices. Physically Unclonable Function(PUF) has been proposed to improve the security and reliability of ICs. PUF can generate unique values by utilizing manufacturing variations such as transistor thresholds and wiring parasitic capacitances and can identify individual chips. However, the PUF circuit must be embedded to generate unique values, which increases the area overhead. This paper proposes a new design of an arbiter PUF embedded in a design-for-testability circuit. The delay elements in the delay testable circuit are also used for the arbiter PUF. We implement the proposed circuit and evaluate the area overhead. The simulation results confirmed that the response of the arbiter PUF is not predictable and depends on the device variations. We also confirmed that the area overhead can be reduced compared to separately implementing an arbiter PUF.
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA11451459
書誌情報 研究報告システムとLSIの設計技術(SLDM)

巻 2024-SLDM-207, 号 13, p. 1-6, 発行日 2024-11-05
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 2188-8639
Notice
SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
出版者
言語 ja
出版者 情報処理学会
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Ver.1 2025-01-19 07:57:42.441634
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