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  1. 研究報告
  2. ソフトウェア工学(SE)
  3. 2024
  4. 2024-SE-217

スナップショットテストにおける欠陥検出力の実証的評価にむけて

https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/237362
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/237362
2b21cafb-7b7a-490d-b7a6-33f4307ac2d6
名前 / ファイル ライセンス アクション
IPSJ-SE24217008.pdf IPSJ-SE24217008.pdf (1.2 MB)
 2026年7月18日からダウンロード可能です。
Copyright (c) 2024 by the Information Processing Society of Japan
非会員:¥660, IPSJ:学会員:¥330, SE:会員:¥0, DLIB:会員:¥0
Item type SIG Technical Reports(1)
公開日 2024-07-18
タイトル
タイトル スナップショットテストにおける欠陥検出力の実証的評価にむけて
タイトル
言語 en
タイトル Towards An Empirical Evaluation of Defect Detection Capability in Snapshot Testing
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
資源タイプ technical report
著者所属
奈良先端科学技術大学院大学
著者所属
奈良先端科学技術大学院大学
著者所属
奈良先端科学技術大学院大学
著者所属
奈良先端科学技術大学院大学
著者所属(英)
en
NAIST
著者所属(英)
en
NAIST
著者所属(英)
en
NAIST
著者所属(英)
en
NAIST
著者名 藤田, 駿

× 藤田, 駿

藤田, 駿

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馬渕, 航

× 馬渕, 航

馬渕, 航

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柏, 祐太郎

× 柏, 祐太郎

柏, 祐太郎

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飯田, 元

× 飯田, 元

飯田, 元

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論文抄録
内容記述タイプ Other
内容記述 ソフトウェアテストは品質保証において重要なプロセスである.近年ではフロントエンド開発における UI などでもテストコードが作成されているものの,テスト対象が複雑であることが多く,十分なテストを行うことは容易ではない.特に,複雑な対象のテストは,開発者の時間の多くを費やすため,実装が容易なスナップショットテストが利用され始めている.スナップショットテストはプログラム変更前後における動作の差分を検査し,想定外の変更などを検出することができる.しかしながら,スナップショットテストの欠陥検出の効果がどの程度かは明らかとなっていない.本研究では,GitHub 上の JavaScrpt プロジェクトのうち,テストフレームワーク JEST が提供するスナップショットテストを利用するプロジェクトを収集する.そして,テストの効果指標として広く用いられるカバレッジやミューテーションスコアが,スナップショットテストによってどの程度向上するかを調査する.
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AN10112981
書誌情報 研究報告ソフトウェア工学(SE)

巻 2024-SE-217, 号 8, p. 1-8, 発行日 2024-07-18
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 2188-8825
Notice
SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
出版者
言語 ja
出版者 情報処理学会
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Ver.1 2025-01-19 08:54:35.097799
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