@inproceedings{oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00235621,
 author = {水木, 直也 and 福原, 諒河 and 森下, 誠 and 河合, 直聡 and 片桐, 孝洋 and 星野, 哲也 and 永井, 亨},
 book = {第86回全国大会講演論文集},
 issue = {1},
 month = {Mar},
 note = {量子アニーリングが注目されており，その中でも疑似量子アニーラのサービスが展開されている．一方で、サポートベクターマシン（SVM）は広くクラス分類に使われているが，疑似量子アニーラでの評価は十分でない．そこで本研究では，疑似量子アニーラの一つであるCMOSアニーリングマシンでSVMにより誤差を有するクラス分類を行い，その性能を評価する．性能評価では2値分類問題における正解率を評価対象とし，訓練データの誤差の割合ごとに，従来のCPUにおけるSVMとCMOSアニーリングマシンにおけるSVMを比較する．},
 pages = {19--20},
 publisher = {情報処理学会},
 title = {SVMによる誤差を含むクラス分類におけるCMOSアニーリングマシンの性能評価},
 volume = {2024},
 year = {2024}
}