@techreport{oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00234946,
 author = {丸山, 颯斗 and 村上, 諒 and 篠塚, 寛志 and 永田, 賢二 and 吉川, 英樹 and 庄野, 逸},
 issue = {59},
 month = {Jun},
 note = {X 線光電子分光法 (X-ray Photoelectron Spectroscopy:XPS) は，物質表面に X 線を照射し，得られる光電子から材料の組成や電子状態を知る計測手法である．計測スペクトルは物質固有の多数のピークの重ね合わせになるため，これを分解することで解析を行う．一方で，これらの計測スペクトルは計測の装置条件に依存して若干ゆらぐため，データの装置由来のゆらぎに対応する解析手法が必要となる．そこで，本研究では計測スペクトルは試料固有の共通するピーク構造に装置条件ごとに異なる摂動が加わるという枠組みでベイズ推定を行った．ベイズ推定によってパラメータを推定することで推定結果の不確実性を評価できるようになった．実験では模擬データを用いた推定を行い，推定結果について評価を行った．, X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) is a measurement technique for determining material compositions and electronic states from photoelectrons spectra obtained by X-ray exposing on the surface of a material. Since the measurement spectrum is a superposition of material-specific peaks, it is analyzed by decomposing the spectra. On the other hand, since these measurement spectra are different in each measurement device settings, an analysis method is required to cope with the fluctuation of the data. Therefore, we performed Bayesian estimation in the framework that measurement spectrum are observed with each different perturbations added to common peak structure unique to sample. Bayesian estimation of the parameters allowed us to evaluate the uncertainty of the estimation results. In the experiment, the estimation was performed using simulated data, and we evaluated estimation results.},
 title = {X線光電子分光スペクトルにおける共通ピーク構造のベイズ推定},
 year = {2024}
}