障害要因分析における生成AIを活用した関連知識統合手法の提案

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 2024-05-23
• タイトル: 障害要因分析における生成AIを活用した関連知識統合手法の提案
• タイトル / 言語: en
• タイトル: Proposal of The Related Knowledge Integration Method Using Generative AI in Troubleshooting
• 言語: jpn
• キーワード / 主題Scheme: Other
• キーワード / 主題: ICM2
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: (株)日立製作所
• 著者所属: (株)日立製作所
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Hitachi, Ltd
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Hitachi, Ltd
• 著者名: 久恒, 泰地; 受田, 賢知
• 著者名(英): Taichi, Hisatsune; Tomoharu, Ukeda
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: システム運用時の障害分析に対し生成 AI を活用した際の正答率向上手法を検討した．仕様書とユーザーガイドをナレッジベースへ格納した RAG に対し障害情報を入力し要因・対策を出力する従来手法を IoT データ収集基盤にて発生した障害事例に対し評価した所，要因・対策を明記した障害以外では正答率 25% と低い点が課題となった．本報告では，処理，対象，設定の複数知識を問うプロンプトを生成し，ナレッジベースから各知識を RAG により抽出し，GPT-4 の一般解と結合し分析する関連知識統合手法を提案した．IoT データ収集基盤の障害事例 20 件で回答精度を評価し，70% まで向上した結果を報告する．
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: We have studied methods to improve the accuracy of fault analysis during system operation by utilizing AI. We inputted fault information into a RAG that stored specifications and user guides in a knowledge base, and evaluated the conventional method of outputting causes and countermeasures against failure cases that occurred on the IoT data collection platform. The problem was that the accuracy rate was as low as 25% for faults other than those that clearly stated causes and countermeasures. In this report, we propose a method of integrating related knowledge that generates prompts that ask for multiple knowledge of processing, subject, and setting, extracts each knowledge from the knowledge base by RAG, and analyzes it in combination with the general solution of GPT-4. We evaluated the answer accuracy with 20 failure cases on the IoT data collection platform, and report that it improved up to 70%.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AA11235941
• 書誌情報: 研究報告コンピュータセキュリティ（CSEC）; 巻 2024-CSEC-105, 号 17, p. 1-6, 発行日 2024-05-23
• ISSN / 収録物識別子タイプ: ISSN
• ISSN / 収録物識別子: 2188-8655
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会